簡要描述：電工電子漏電指數(shù)測(cè)試儀器如果材料性能未知,應(yīng)至少對(duì)三個(gè)試樣在電壓300V下進(jìn)行50滴試驗(yàn)的篩選試驗(yàn),如果材料能承受初始試驗(yàn)而未發(fā)生電痕化失效,也未持續(xù)燃僥,則始終使用三個(gè)試樣,每次增加100V電壓繼續(xù)進(jìn)行試驗(yàn),直到發(fā)生電痕化失散或持續(xù)燃燒,然后將試驗(yàn)電壓降低50V進(jìn)行試驗(yàn),最后將試驗(yàn)電壓升高或降低25V,以確定用于相比電痕化指數(shù)的試驗(yàn)電壓，如果材料在初始試驗(yàn)電壓下失效,則將試驗(yàn)電......

品牌	北廣精儀	應(yīng)用領(lǐng)域	能源,電子/電池,道路/軌道/船舶,汽車及零部件,電氣

電工電子漏電指數(shù)測(cè)試儀器相比電痕化指數(shù)(CTI)

概述測(cè)定相比電痕化指數(shù)，需測(cè)量連續(xù)五個(gè)試樣通過50滴試驗(yàn)的電壓值，然后在低于該電壓值25V

的電壓下對(duì)五個(gè)試樣進(jìn)行100滴試驗(yàn)，若試驗(yàn)未通過，則應(yīng)確定100滴試驗(yàn)的電壓值。

如果五個(gè)試樣中有一個(gè)在某試驗(yàn)電壓下失效，則可重新試驗(yàn)另一組五個(gè)試樣，如果十個(gè)試樣中只有

一個(gè)失效，則可繼續(xù)進(jìn)行下一個(gè)更高電壓的試驗(yàn)。

11.2 篩選試驗(yàn)

如果材料性能未知，應(yīng)至少對(duì)三個(gè)試樣在電壓300V下進(jìn)行50滴試驗(yàn)的篩選試驗(yàn)，如果材料能承

受初始試驗(yàn)而未發(fā)生電痕化失效，也未持續(xù)燃燒，則始終使用三個(gè)試樣，每次增加100V電壓繼續(xù)進(jìn)行試

驗(yàn)，直到發(fā)生電痕化失效或持續(xù)燃燒，然后將試驗(yàn)電壓降低50V進(jìn)行試驗(yàn)，最后將試驗(yàn)電壓升高或降低

25V，以確定用于相比電痕化指數(shù)的試驗(yàn)電壓。

如果材料在初始試驗(yàn)電壓下失效，則將試驗(yàn)電壓降低100V，以上述相同的程序確定相比電痕化指數(shù)，

且始終使用三個(gè)試樣。

根據(jù)一般程序和11.1,11.3及11.4測(cè)量相比耐電痕化指數(shù)。

注:篩選試驗(yàn)的任何結(jié)果均可用于完成確定CTI值的一般程序。

篩選試驗(yàn)是必要的，由于某些材料可以承受較高的試驗(yàn)電壓，但在較低的試驗(yàn)電壓下會(huì)失效。

電工電子漏電指數(shù)測(cè)試儀器滿足標(biāo)準(zhǔn)：

　　IEC60695 ：2003 《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測(cè)定方法》，標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的仿真試驗(yàn)項(xiàng)目；同時(shí)滿足GB 4943.1-2011，IEC60950-1：2005Clause 2.10.4.2條款、IEC60112-2009 、GB4207、GB4706.1試驗(yàn)要求。

7.1 電極

應(yīng)使用純度至少為99%的金屬鉑作為電極(參見附錄C),兩個(gè)電極應(yīng)有(5.0士0.1)mmx(2.0±0.1)mm

的矩形橫截面，其一端部有(30±2)°角的斜面，如圖1所示，斜面的刃近似為平面，約0.01mm~0.10mm

寬。

注1:經(jīng)驗(yàn)表明，用帶有目鏡校準(zhǔn)的顯微鏡，適用于檢驗(yàn)刃的表面尺寸。

注2:通常在每次試驗(yàn)后使用機(jī)械方法再次打磨電極的刃，以確保電極保持所要求的公差，特別是斜面和角。

在試驗(yàn)開始前，電極應(yīng)對(duì)稱的安放在試樣表面上，并垂直于試樣表面，電極之間成(60±5)°角

試驗(yàn)程序

啟動(dòng)滴液裝置，使液滴滴落在試樣表面，保持試驗(yàn)進(jìn)行，直到發(fā)生以下情況之一:

a) 過電流裝置動(dòng)作;

b) 發(fā)生持續(xù)燃燒;

c)第50(100)滴滴落后經(jīng)過至少25S，無a)或b)情況發(fā)生。

注:若不要求測(cè)定蝕損，可在任何50滴試驗(yàn)前進(jìn)行100滴試驗(yàn)。

試驗(yàn)結(jié)束后，排出試驗(yàn)箱內(nèi)有毒氣體，取出試樣。蝕損的測(cè)定

按要求，50滴液滴試驗(yàn)結(jié)束后，應(yīng)清除掉粘在未失效試樣表面的任何碎屑或松散附著的分解物，然

后將試樣放在帶有深度計(jì)的平臺(tái)上。應(yīng)使用具有半球端部的其直徑為1.0mm的探針測(cè)量每個(gè)試樣的

蝕損深度，以毫米表示，精度為0.1mm。測(cè)量五次，結(jié)果取值。

蝕損深度小于1mm時(shí)，應(yīng)以“<1mm"表示。