a、利用X射線熒光光譜技術(shù)，對用于土壤、污泥、固廢、化妝品等介質(zhì)中As、Pd、Hg多種元素的現(xiàn)場分析測定，無需樣品前處理，短時間快速分析；

b、分析模式多樣化：具備土壤、工業(yè)用地、農(nóng)業(yè)用地等多種模式，能夠依據(jù)元素結(jié)果和內(nèi)置環(huán)境質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)（可自定義）快速判斷樣品是否達標(biāo)，

c、安全系統(tǒng)：設(shè)備前端設(shè)有紅外和可見光雙探測器，環(huán)保性能佳，測試窗口無樣品時，自動關(guān)閉X射線；

d、操作系統(tǒng)：中文操作界面，屏幕與主機一體化固定角度設(shè)計；

e、檢出限：ppm級別，特定元素檢出限：Hg、Cd<>，測量時間：≤30s，儀器外置標(biāo)準(zhǔn)片，開機免校準(zhǔn)。