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南京木木西里科技有限公司>>顯微測量儀器>>電子顯微鏡>>場發(fā)射掃描電鏡KYKY-EM8000F

場發(fā)射掃描電鏡KYKY-EM8000F

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更新時間:2023-05-29 14:38:27瀏覽次數:459

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產品簡介

產品介紹INTRODUCTION軟件功能介紹KYKY-SEM電鏡操作軟件純中文操作界面,模塊化布局

詳細介紹

產品介紹INTRODUCTION

軟件功能介紹

KYKY-SEM電鏡操作軟件純中文操作界面,模塊化布局。在滿足基本電鏡的操作功能外還具有一鍵看像,多點尺寸測量,電鏡圖片文字標注,真空圖顯示,CCD窗口顯示等*的輔助功能,滿足不同用戶的個性化需求。

圖像處理軟件

特點FEATURES

Schottky肖特基場發(fā)射電子槍亮度高、單色性好、電子束斑小,壽命長;

低加速電壓下能保持較好的亮度和較高的分辨率;

束流穩(wěn)定度高、色散小,適宜于長時間的各種精確分析,如BSE、EDS、EBSD;

低加速電壓不導電樣品可以直接觀測,無需噴金;

操作簡便,僅用鼠標即可完成所有的電鏡操作;

附屬品ACCESSORY

附屬設備

X-射線能譜儀

用途

能譜儀(EDS)是用較細聚集的高能電子束照射樣品表面所需分析的微區(qū),激發(fā)出物質的特征X射線,能譜儀用半導體探測器檢測X射線的能量并按其大小展譜,特征X射線的能量決定于組成該物質的元素種類,強度決定元素的含量。

產品特點

◆ 電制冷硅偏移探測器;
◆ 超薄窗口,元素探測從Be開始
◆ 智能定量、智能元素面分布以及掃描等功能
◆ 安裝簡單可靠

EBSD電子背散射衍射儀器

用途

掃描電子顯微鏡中電子背散射衍射儀能夠對金屬,陶瓷顯微結構織構和取向差分析;晶粒尺寸及形狀分布分析;晶界、亞晶及孿晶界性質分析;


產品特點

◆ 是在保留掃描電子顯微鏡的常規(guī)特點的同時進行空間分辨率亞微米級的衍射(給出結晶學的數據)。

制樣和輔助設備

SBC-12小型離子濺射儀

應用領域

該儀器用于掃描電鏡的樣品表面處理。工作室工作媒介氣體:空氣或氬氣,配有氬氣專用進氣口和微量充氣調節(jié),可以非標定制。

SBC-2型多功能試樣表面處理機

應用領域

離子噴涂、離子濺射、離子清洗、離子蒸碳、真空蒸金屬等工作。

SBC—16氬離子濺射儀

應用領域

氬離子濺射儀通過氬離子轟擊靶材,從而在樣品表面進行沉積的方式實現樣品制備,對靶材無選擇性,對樣品無傷害。另可以實現離子清洗和離子減薄等功能一機多能!

臨界點干燥儀

使用最多的臨界點干燥器(CPD)!

尺寸大?。簝葟剑?2 mm 內部長度:82 mm

配 件 :連接管、轉接閥、備件箱、配套蒸發(fā)皿、網籃套件

壓強范圍:0-2000psi

溫度范圍:0°-50° C(32°- 122° F)

應用APPLICATIONS

多樣化的電鏡應用定制方案

1.高低溫拉伸臺和微納機械手

掃描電鏡結合原位拉伸試驗臺是一種能夠動態(tài)觀測和分析材料微觀變形形貌和斷裂機制的手段;

利用掃描電鏡的大景深、高空間分辨和分析功能,在微觀層面上對材料的力學性能進行動態(tài)研究;

可以為多種材料做拉伸測試,如金屬材料、高分子材料、陶瓷材料等;

拉伸載荷:5000 N,可以實現-150 ℃~600 ℃溫度下拉伸測試。

掃描電鏡結合納米機械手,集合納米操作以及力學-電學性能同步測試功能于一體;

可以應用于復雜微納米材料的原位機械力學性能測試和結構觀察、微納米多自由度操作和精密組裝、微納米機器人及微納傳感器的力/電學分析等;

力學測量范圍從0.5 nN到200 mN,位移檢測范圍0.05 nm到21 mm。

2.電子束曝光(EBL)系統

以掃描電子顯微鏡為基礎,配備激光精密工件臺和圖形發(fā)生器的新型納米曝光系統,跟商品化電子束曝光機相比價格低廉;

無需改動電子顯微鏡,保留顯微鏡的全部功能,用來制作納米級線寬的圖像,操作靈活,成本較低;

DY-2000A型納米通用圖形發(fā)生器是用于電子束曝光的關鍵設備;

該系統特別適用于微電子器件、量子器件、光電子器件、聲表面波器件、微電子系統的研究和開發(fā)。

3.掃描電鏡與激光聯用系統

根據客戶定制需求,在電子槍室和樣品倉側面開口,用于激光引入;

電子槍室引入激光,照射到陰極上可產生光致發(fā)射電子束,用于表面成像、樣品處理等;

樣品倉引入激光到樣品表面,用于樣品激發(fā)或樣品光致改性研究。

4.掃描電鏡與鍍膜機聯用系統

掃描電鏡與鍍膜系統聯用,真空環(huán)境內完成樣品傳運以及表面狀態(tài)、形貌及組成成分分析;

在線分析高活性材料表面離子濺射清洗效果及表面腐蝕的微觀過程;

本系統主要功能模塊包括:場發(fā)射掃描電子顯微系統、能譜儀、進樣系統,同時還可以配備多功能樣品臺。

5.掃描電鏡與掃描隧道顯微鏡(STM)/原子力顯微鏡(AFM)聯用系統

利用掃描電鏡放大倍數連續(xù)可調、長工作距離、大景深、易于觀測粗糙樣品的特點;

與STM/AFM結合,解決STM/AFM難于定位的難題;

首先使用掃描電鏡進行選區(qū),然后控制探針到選定的微觀區(qū)域進行細致成像;

實現從宏觀到微觀,從mm 范圍到nm 范圍,從粗造表面到光滑表面的直接觀察;

6.電子束焊機圖像系統

巧妙地利用焊機已有的一些部件,基于背散射電子成像,實現圖像功能;

數字化的圖像可以精確定位焊縫的位置,為跟蹤焊接軌跡,精確調整焊接參數提供了條件,

大大改善焊接過程和焊縫質量;

這套圖像系統既可以用于配套生產新型的電子束焊機,也可以用于升級改造舊的電子束焊機。

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