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SE-VE光譜橢偏儀 詳細(xì)摘要： SE-VE光譜橢偏儀本設(shè)備基于單旋轉(zhuǎn)補償器調(diào)制技術(shù)一次性獲取Psi/Delta、N/C/S、反射率等光譜，可實現(xiàn)基底上單層到多層薄膜的膜厚、光學(xué)常數(shù)的快速分析表...
產(chǎn)品型號： 所在地：深圳市 更新時間：2025-04-26 參考價： 面議 在線留言
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深圳東儀精工設(shè)備有限公司
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詳細(xì)摘要： SE-VE光譜橢偏儀本設(shè)備基于單旋轉(zhuǎn)補償器調(diào)制技術(shù)一次性獲取Psi/Delta、N/C/S、反射率等光譜，可實現(xiàn)基底上單層到多層薄膜的膜厚、光學(xué)常數(shù)的快速分析表...
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