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詳細(xì)介紹
奧本精密公司生產(chǎn)的計量平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，計量平面平晶利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的誤差程度。
| 訂貨號 | 奧本精工計量平面平晶（單面） | ||||||
| Aubat30p | 單平面平晶 | φ45*15 | 平面度＜0.1μm | ||||
| Aubat31p | 單平面平晶 | φ45*15 | 平面度0.03μm | ||||
| Aubat32p | 單平面平晶 | φ50*20 | 平面度0.03μm | ||||
| Aubat33p | 單平面平晶 | φ50*20 | 平面度0.03μm | ||||
| Aubat34p | 單平面平晶 | φ60*20 | 平面度0.03μm | ||||
| Aubat35p | 單平面平晶 | φ75*20 | 平面度0.03μm | ||||
| Aubat36p | 單平面平晶 | φ80*20 | 平面度0.05μm | ||||
| Aubat37p | 單平面平晶 | φ120*25 | 平面度0.05μm | ||||
| Aubat38p | 單平面平晶 | φ150*30 | 平面度0.05μm | ||||
| Aubat39p | 單平面平晶 | φ200*40 | 平面度0.08μm | ||||
| Aubat40p | 單平面平晶 | φ250*45 | 平面度0.1μm | ||||
| Aubat41p | 單平面平晶 | φ300*50 | 平面度0.15μm | ||||
| Aubat42p | 單平面平晶 | φ500*70 | 平面度0.35μm | ||||
| 訂貨號 | 奧本精工計量平面平晶（雙面） | ||||||
| Aubat40p | 雙平面平晶 | φ45*15 | 平面度＜0.1μm | ||||
| Aubat41p | 雙平面平晶 | φ45*15 | 平面度0.03μm | ||||
| Aubat42p | 雙平面平晶 | φ50*20 | 平面度0.03μm | ||||
| Aubat43p | 雙平面平晶 | φ60*20 | 平面度0.03μm | ||||
| Aubat44p | 雙平面平晶 | φ75*20 | 平面度0.03μm | ||||
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