JJF1484-2014濕膜厚度測(cè)量規(guī)校準(zhǔn)規(guī)范

貨號(hào)AUBAT-1484S

帶平面工作臺(tái)的鋼性表架

本規(guī)范適用于測(cè)量范圍為 (0~3 000) μm 的濕膜厚度測(cè)量規(guī)的校準(zhǔn)。濕膜厚度測(cè)量規(guī)按結(jié)構(gòu)型式分為梳規(guī)和輪規(guī)兩種。梳規(guī)是一種由耐腐蝕材料制成，邊緣排列一系列矩形齒的量規(guī)。其每邊兩端形成一條基線，沿著該基線排列的齒頂與基線形成了一個(gè)用于測(cè)量濕膜厚度的高差系列。常見有正方形、正六邊形等，主要用于測(cè)量平整或輕微彎曲表面的濕涂層厚度。輪規(guī)是一種由耐腐蝕材料制成，且由兩個(gè)相同直徑與一個(gè)較小直徑的輪緣組成的量規(guī)。具有相同直徑的輪緣同心且外側(cè)標(biāo)有刻度，每刻度表示該位置較小輪緣 (工作面)與同心輪緣(基準(zhǔn))間高差所對(duì)應(yīng)的厚度標(biāo)稱值。主要用于測(cè)量平整或均勻彎曲表面的濕涂層厚度。

示值誤差

濕膜厚度測(cè)量規(guī)示值誤差校準(zhǔn)點(diǎn)，選擇在有厚度標(biāo)稱值的位置進(jìn)行測(cè)量。對(duì)于輪規(guī)，一般不超過均勻分布的 10 個(gè)測(cè)量位置。

1梳規(guī)的示值誤差

測(cè)量范圍在 (5~100) μm內(nèi)的梳規(guī)

用光學(xué)計(jì)測(cè)量，測(cè)量時(shí)選用刃口形測(cè)帽，先將梳規(guī)固定在專用夾具上，然后再置于光學(xué)計(jì)工作臺(tái)上，調(diào)整專用夾具，使每一組尺寸的基準(zhǔn)齒*高點(diǎn)等高 (即基線與測(cè)量軸線垂直)，測(cè)帽的短邊與基線平行，將測(cè)帽與基準(zhǔn)齒齒頂*高點(diǎn)相接觸，從光學(xué)計(jì)讀數(shù)ao，移動(dòng)專用夾具，使測(cè)帽與相應(yīng)的被測(cè)齒頂雖高點(diǎn)相接觸，從光學(xué)計(jì)讀數(shù) ai，按公式計(jì)算各測(cè)量位置的讀數(shù) a;與a。的差值，即該齒頂?shù)交€的高差，以高差的**值作為厚度測(cè)量結(jié)果 h;。其標(biāo)稱值與該管之差即為校準(zhǔn)結(jié)果。

測(cè)量范圍大于 100 μm的梳規(guī)

用工具顯微鏡測(cè)量，測(cè)量時(shí)將梳規(guī)水平放置在工作臺(tái)上，選取 5X物鏡，使每一組尺寸的基線與目鏡十字線的水平線平行，瞄準(zhǔn)基線，讀數(shù) ao，橫向移動(dòng)工作臺(tái)，使目鏡十字線的水平線分別與相應(yīng)的被測(cè)齒頂*高點(diǎn)對(duì)齊，讀數(shù) a;，按公式 計(jì)算該齒頂?shù)交€高差的**值并作為厚度值，其標(biāo)稱值與該值之差即為校準(zhǔn)結(jié)果。也可使用滿足測(cè)量不確定度要求的其他測(cè)量方法進(jìn)行測(cè)量。

2輪規(guī)的示值誤差

測(cè)量范圍在 (0~125)μm內(nèi)的輪規(guī)

用光學(xué)計(jì)測(cè)量，測(cè)量時(shí)選用刃口形測(cè)帽，將輪規(guī)放在專用夾具上，有刻線的一面放在便于觀察的位置，調(diào)整專用夾具，使輪規(guī)的中心軸線與刃口形測(cè)帽長(zhǎng)邊垂直。調(diào)整測(cè)桿使測(cè)帽與基準(zhǔn)圓有厚度標(biāo)稱值刻線的外徑接觸，此時(shí)讀數(shù)為 a，移動(dòng)專用夾具，使測(cè)帽與另一側(cè)的基準(zhǔn)圓接觸，讀取另一基準(zhǔn)圓在相應(yīng)位置的讀數(shù) a，以及與相應(yīng)位置較小輪緣接觸并讀數(shù) a;，按公式計(jì)算該位置的厚度值 h;，其標(biāo)稱值與該值之差即為校準(zhǔn)結(jié)果。

測(cè)量范圍大于 125 μm的輪規(guī)

用數(shù)顯千分表測(cè)量，測(cè)量時(shí)將數(shù)顯千分表安裝在表架上，并選用圓平面測(cè)頭:輪規(guī)放在專用夾具上并置于平面工作臺(tái)上，有刻線的一面朝外，根據(jù)實(shí)際情況調(diào)整數(shù)顯千分表的高度; 用公式計(jì)算該位置的厚度值，其標(biāo)稱值與該值之差即為校準(zhǔn)結(jié)果。