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詳細(xì)介紹
JJF1731-2018超聲C掃描設(shè)備校準(zhǔn)規(guī)范
校準(zhǔn)裝置貨號(hào)AUBAT-1731C
1.標(biāo)準(zhǔn)試塊
2.校準(zhǔn)試塊
采用型號(hào)為 DB-PZ20-2、DB-PZ20-4、CSK-IA 的標(biāo)準(zhǔn)試塊，或超聲 C 掃描設(shè)備校準(zhǔn)試塊。
JJF1731-2018超聲C掃描設(shè)備校準(zhǔn)規(guī)范適用于規(guī)則工件(板、棒、管) 超聲 C 掃描設(shè)備的校準(zhǔn)，其他類似設(shè)備的校準(zhǔn)也可以參照采用。超聲 C 掃描設(shè)備是一種高性能無損自動(dòng)探傷設(shè)備，它由超聲探傷儀、超聲波探頭機(jī)電掃查系統(tǒng) (包括多軸掃查系統(tǒng)和伺服運(yùn)動(dòng)控制系統(tǒng)) 及掃查分析軟件等主要部分組成，廣泛用于航空航天、船舶、鐵路、橋梁建筑、化工機(jī)械等領(lǐng)域的非破壞性檢測。
計(jì)量特性
1 水平線性誤差一般不超過 1%。
2垂直線性誤差一般不超過 5%。
3 衰減器衰減誤差不超過±1 dB/12 dB。
4動(dòng)態(tài)范圍不小于 26 dB。
5*大使用靈敏度不大于 400μ V
6 探傷靈敏度余量不小于 46 dB
7分辨力一般不小于 26 dB。
8系統(tǒng)標(biāo)稱靈敏度下信噪比通常要求不低于 6 dB。
9圖像畸變系數(shù) k不大于 1.2。
10 掃查軸機(jī)械誤差系數(shù) Es一般不大于 0.15。
超聲 C 掃描設(shè)備校準(zhǔn)試塊技術(shù)要求如下:
1) 材質(zhì):標(biāo)準(zhǔn)試塊材質(zhì)應(yīng)與被檢材質(zhì)一致，也可用參考材質(zhì) 6061。
2) 上下面平行度應(yīng)控制在±0.025 mm 以內(nèi)。
3) 平底孔直徑公差為±0.01 mm 或孔徑的±1%，取其大者; 孔底平面度為±0.01 mm; 孔底 R值不應(yīng)大于 3.2μm，各孔中心線應(yīng)通過半徑，同軸度公差為0. 1 mm .
4) 平底孔應(yīng)經(jīng)過防腐處理并密封，提供金屬-空氣界面。
5) 按照 GB/T 11259 規(guī)定的方法對(duì)平底孔進(jìn)行密封。
掃查軸機(jī)械誤差系數(shù)的測量不確定度評(píng)定示例
測量方法
機(jī)械掃描機(jī)構(gòu)帶動(dòng)超聲探頭沿標(biāo)準(zhǔn)試塊表面規(guī)劃好的路徑做空間掃描，計(jì)算機(jī)從運(yùn)動(dòng)控制卡實(shí)時(shí)獲取探頭的空間坐標(biāo)，同時(shí)采集試塊的超聲信號(hào)，作為圖像的原始數(shù)據(jù)然后采用面元模型對(duì)圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行重建，試件表面可劃分成依次排列的微面積元。當(dāng)數(shù)目足夠大時(shí)，這些面積元按相應(yīng)的位置排列就可重構(gòu)形成 C 掃描圖像。作過渡區(qū)域的外接圓和內(nèi)切圓，分別測得直徑為 D。和 Di。
校準(zhǔn)裝置貨號(hào)AUBAT-1731C
1.標(biāo)準(zhǔn)試塊
2.校準(zhǔn)試塊
采用型號(hào)為 DB-PZ20-2、DB-PZ20-4、CSK-IA 的標(biāo)準(zhǔn)試塊，或超聲 C 掃描設(shè)備校準(zhǔn)試塊。
JJF1731-2018超聲C掃描設(shè)備校準(zhǔn)規(guī)范適用于規(guī)則工件(板、棒、管) 超聲 C 掃描設(shè)備的校準(zhǔn)，其他類似設(shè)備的校準(zhǔn)也可以參照采用。超聲 C 掃描設(shè)備是一種高性能無損自動(dòng)探傷設(shè)備，它由超聲探傷儀、超聲波探頭機(jī)電掃查系統(tǒng) (包括多軸掃查系統(tǒng)和伺服運(yùn)動(dòng)控制系統(tǒng)) 及掃查分析軟件等主要部分組成，廣泛用于航空航天、船舶、鐵路、橋梁建筑、化工機(jī)械等領(lǐng)域的非破壞性檢測。
計(jì)量特性
1 水平線性誤差一般不超過 1%。
2垂直線性誤差一般不超過 5%。
3 衰減器衰減誤差不超過±1 dB/12 dB。
4動(dòng)態(tài)范圍不小于 26 dB。
5*大使用靈敏度不大于 400μ V
6 探傷靈敏度余量不小于 46 dB
7分辨力一般不小于 26 dB。
8系統(tǒng)標(biāo)稱靈敏度下信噪比通常要求不低于 6 dB。
9圖像畸變系數(shù) k不大于 1.2。
10 掃查軸機(jī)械誤差系數(shù) Es一般不大于 0.15。
超聲 C 掃描設(shè)備校準(zhǔn)試塊技術(shù)要求如下:
1) 材質(zhì):標(biāo)準(zhǔn)試塊材質(zhì)應(yīng)與被檢材質(zhì)一致，也可用參考材質(zhì) 6061。
2) 上下面平行度應(yīng)控制在±0.025 mm 以內(nèi)。
3) 平底孔直徑公差為±0.01 mm 或孔徑的±1%，取其大者; 孔底平面度為±0.01 mm; 孔底 R值不應(yīng)大于 3.2μm，各孔中心線應(yīng)通過半徑，同軸度公差為0. 1 mm .
4) 平底孔應(yīng)經(jīng)過防腐處理并密封，提供金屬-空氣界面。
5) 按照 GB/T 11259 規(guī)定的方法對(duì)平底孔進(jìn)行密封。
掃查軸機(jī)械誤差系數(shù)的測量不確定度評(píng)定示例
測量方法
機(jī)械掃描機(jī)構(gòu)帶動(dòng)超聲探頭沿標(biāo)準(zhǔn)試塊表面規(guī)劃好的路徑做空間掃描，計(jì)算機(jī)從運(yùn)動(dòng)控制卡實(shí)時(shí)獲取探頭的空間坐標(biāo)，同時(shí)采集試塊的超聲信號(hào)，作為圖像的原始數(shù)據(jù)然后采用面元模型對(duì)圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行重建，試件表面可劃分成依次排列的微面積元。當(dāng)數(shù)目足夠大時(shí)，這些面積元按相應(yīng)的位置排列就可重構(gòu)形成 C 掃描圖像。作過渡區(qū)域的外接圓和內(nèi)切圓，分別測得直徑為 D。和 Di。
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