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奧本精密工業(yè)AUBAT-116檢定裝置適用于采用結(jié)構(gòu)光測量原理,包括投影光柵式、手持激光線掃描式等類型的三維輪廓光學(xué)掃描測量儀的校準(zhǔn)光學(xué)三維測量系統(tǒng)vdi/vde2634 基于區(qū)域掃描的光學(xué)系統(tǒng)、多視角系統(tǒng)奧本aubat采用標(biāo)準(zhǔn)球作為標(biāo)準(zhǔn)器具,各測量點(diǎn)與*小二乘擬合球球心之間徑向距離的變化范圍,擬合球常由自由半徑*小二乘法計(jì)算得到 形狀探測誤差,尺寸探測誤差 ,球心距離測量誤差 ,坐標(biāo)測量誤差,端面長度測量誤差
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