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非接觸式測(cè)厚儀

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更新時(shí)間:2022-10-26 14:42:13瀏覽次數(shù):546

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

Lumetrics 品牌OptiGauge系列厚度測(cè)量系統(tǒng)采用了短相干光源的邁克爾遜干涉儀原理。特點(diǎn):1. 非接觸式、非破壞性; 2. 實(shí)時(shí)在線測(cè)量或離線測(cè)量; 3. 可單次測(cè)量多層膜,可測(cè) 20 層; 4. 探針靈活配置,實(shí)現(xiàn)多個(gè)不同目標(biāo)測(cè)量 (最多可配8個(gè)探頭); 5. 測(cè)試速度快(1s) 6. 適用范圍廣

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品資料下載
  • Wedge-Angle-Measurements-for-HUD-displaysfinal-1
  • TAPPI_Paper_August_2004
  • silicon_wafer_void_detection
  • Optics_East_paper_color_04
  • Optical-Thickness-and-Flatness-Measurement-of-Bonded-Silicon-Wafer-Assemblies-AP-104-01
  • Medical-Design-Briefs-12.14-article
  • Lumetrics-SPIE-Polyolefins-06-Paper-3-06
  • Lumetrics-Measurement-of-Film-Stacks-White-Paper
  • Lumetrics-IMD-Symposium-Presentation-10-08-rv
  • Lumetrics_Tropel-SPIE_Paper_2005
  • Lumetrics_FoodFeat_Photonics_Spectra-1
  • Lumetrics Measurement of Multiple Lens Thicknesses and Air Gaps within a Lens Stack AP-105-01
  • Liquid Refractive Index Measurement Final Draft
  • Extended_Abstract_IMAPS_Flip_Chip_2004
  • DS-100-02 OptiGauge II & LT Data Sheet DS-100-02-2020
  • AP-115-01 OptiGauge II vs. Nuclear Gauges
  • AP-114-01 - OptiGauge techniques to measure thicknesses below 12 microns
  • AP-113-01 Real time non contact temperature monitoring
  • 2017-05-22 - App Note - OCT technique 04
  • AP-112-01 Opaque Thickness Measurements
  • Sample Measurement Testing - Medical Balloons
  • Lumetrics OptiGauge Project Applications Notes
  • Non-contact measurement and and analysis of six micron +thin wall coatings on medical balloons and catheters using low coherence interferometry

關(guān)鍵詞:測(cè)厚儀 非接觸式測(cè)厚儀 玻璃測(cè)厚 薄膜測(cè)厚 膜層測(cè)厚 鏡片測(cè)厚


Lumetrics 品牌OptiGauge系列厚度測(cè)量系統(tǒng)采用了短相干光源的邁克爾遜干涉儀原理。測(cè)量原理:低相干邁克爾遜干涉儀


如圖所示:


Light Source(短相干光源)發(fā)出短相干光束,經(jīng)Beamsplitter分束成兩束光,這兩束光通過(guò)準(zhǔn)直儀聚焦到Measurement arm(測(cè)量臂)和Reference arm(參考臂)上;
在測(cè)量臂段,光束經(jīng)待測(cè)物前后兩表面反射產(chǎn)生兩束反射光;在參考臂段,光束被delay line(延遲線路)中的掃描參考鏡反射。
各反射光束經(jīng)光纖返回到Beamsplitter 中,此時(shí)掃描反射鏡反射的光束分別與R1和R2兩束光發(fā)生干涉產(chǎn)生兩干涉信號(hào)經(jīng)探測(cè)器(光電二級(jí)管)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)再由顯示儀顯示。參考鏡位置可以精確移動(dòng),當(dāng)干涉儀的測(cè)量臂與參考臂光程相等時(shí),才能夠發(fā)生干涉。這樣通過(guò)監(jiān)控參考鏡的移動(dòng),就可以 測(cè)量被測(cè)鏡的位置。

OptiGauge測(cè)厚儀特點(diǎn)

1. 非接觸式、非破壞性;
2. 實(shí)時(shí)在線測(cè)量或離線測(cè)量;
3. 可單次測(cè)量多層膜,可測(cè) 20 層;
4. 探針靈活配置,實(shí)現(xiàn)多個(gè)不同目標(biāo)測(cè)量 (最多可配8個(gè)探頭);
5. 測(cè)試速度快(1s)
6. 適用范圍廣

測(cè)厚儀性能參數(shù):

型號(hào)

OptiGauge® LT

OptiGauge II

OptiGauge EMS

測(cè)量范圍(n=1.5)

12μm to 3.3 mm

12µm to 12 mm

12µm to 35 mm

測(cè)量層數(shù)

1

20

20

精度

±1μm

±0.1µm

±0.1µm

重復(fù)精度

1μm 1σ

0.1µm 1σ

0.1µm 1σ

掃描速率

50Hz

50Hz,100Hz 和200Hz可選

20Hz

光源

1310nm SLED

45nm wide

1310nm SLED

45nm wide

1310nm SLED

45nm wide

測(cè)量頭工作距離

25mm and 50mm

25mm and 50mm

25mm and 50mm

光纖長(zhǎng)度

3m,max 1000m

3m,max 1000m

3m,max 1000m

測(cè)厚儀應(yīng)用領(lǐng)域:

Lumetrics 產(chǎn)品既可以提供獨(dú)立的測(cè)量頭,也可以集成在各種設(shè)備中,廣泛應(yīng)用在以下領(lǐng)域,

1、光電子行業(yè):

2 、薄膜行業(yè):測(cè)量塑料薄膜的厚度

3 、醫(yī)療行業(yè):測(cè)量滴液管、塑料管壁厚、糖尿試紙、等

4、單件元件厚度控制(特別適用于紅外材料,測(cè)量厚度控制平行度)
5 、平板玻璃厚度測(cè)試:浮法玻璃、液晶平板 透鏡中心厚及膠合間隙測(cè)量

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