弱吸收儀測量意義

在高功率激光系統(tǒng)中，光學鏡片的膜層及體材料吸收較大的話會引起以下熱透鏡效應進而產(chǎn)生一系列問題：
1.如下圖所示的焦距發(fā)生變化
2.波前畸變
3.退偏
4.膜層吸收是影響薄膜損傷閾值 的一個重要指標

LID原理示意圖

此系統(tǒng)采用光熱偏轉技術，用于測量透明光學材料及鍍膜產(chǎn)品受到激光照射后產(chǎn)生的微弱吸收。在強激光照射下，材料內(nèi)部由于吸收熱能產(chǎn)生折射率梯度現(xiàn)象（熱透鏡效應），當一束探測光經(jīng)過“熱透鏡"效應區(qū)域時發(fā)生位置偏移，通過PSD位移傳感器測量其位置偏移量。

LID結構圖

LID技術參數(shù)一覽表

LID與PCI比較一覽表

LID校準-電極校準

采用電極校準得出校正因子Fcal， Ilid 為信號強度，Pl 為pump光功率。

特點：是無需了解樣品材料的特性，便可提供獨立校準。如果改變光熱偏轉系統(tǒng)裝置，需要客戶自己插入和連接校準樣品，利用軟件完成自動校準。

LID測量結果