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日本HORIBA CombiScope 生物型納米拉曼光譜儀

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更新時間:2023-11-22 14:01:44瀏覽次數(shù):233

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產(chǎn)品簡介

日本HORIBA CombiScope 生物型納米拉曼光譜儀 原子力顯微鏡(AFM)是一種*的研究平臺,為生物學、光譜學和光子學領域的研究人員提供了進入通道。如果您在空氣或液體中研究透明樣品納米級結構和(近場)納米光學特性研究,CombiScope是您的解決方案。它地耦合了倒置光學顯微鏡和原子力顯微鏡,釋放了這兩種技術的所有潛能,提供了儀器調節(jié)和測量、高分辨和高速成像。此外,它可以很容易......

詳細介紹



高效、易操作

CombiScope配備了全電動懸臂架和光電二極管定位,具有自動一鍵點式激光-針尖準直功能。這大大簡化了整個系統(tǒng)調整過程,并提供了的系統(tǒng)再現(xiàn)性。此外,在安裝相同或甚至不同類型的新懸臂梁后,樣品表面上的相同感興趣區(qū)域(在幾微米的重復性范圍內)可以很容易地找回并掃描,而無需任何額外的操作。

掃描器

CombiScope配備精密運動控制PI公司提供的閉環(huán)、高動態(tài)、3軸壓電納米定位掃描器。掃描器是該系統(tǒng)的核心,使其能夠實現(xiàn)高線性、高穩(wěn)固性和高精準性運動。

1300 nm AFM激光器

1300nm原子力顯微鏡反饋激光和常用的紫外、可見光和近紅外拉曼激光(364-830 nm)毫無相互干擾,并且消除了對可見光敏感生物和半導體樣品的任何干擾。

耦合光學顯微鏡

倒置光學顯微鏡:尼康Eclipse Ti-U、Olympus IX-71等(具有相位反差和DIC)

平場消色差物鏡:頂部100x,NA=0.7;側向10x,NA0.28

耦合透射和反射(頂部)光路配置,利用光學、拉曼和掃描探針顯微鏡技術研究透明和非透明樣品

在液體中工作的解決方案

標準的CombiScope樣品架可容納所有常見的樣品襯底,包括載玻片、蓋玻片和35 mm培養(yǎng)皿。特殊設計的液體池具有加熱和液體灌注功能,可在生理環(huán)境和高達60°C的溫度維系下生物樣品。

一臺儀器即可實現(xiàn)所有操作模式

CombiScope平臺在一臺儀器中配備了所有現(xiàn)代AFM操作模式,無需任何額外硬件和成本。它包括諸如力模式、納米蝕刻、壓電力顯微鏡(PFM)、開爾文探針顯微鏡和調頻AFM(內置PLL的動態(tài)力顯微鏡)等特殊應用模式。此外,也可以選配掃描隧道顯微鏡(STM)頭和導電AFM在100 fA–10µA范圍內工作(1 nA、100 nA和10µA三檔量程自由切換,1nA量程的電流噪聲為60 fA)和近場光學顯微鏡(SNOM)。CombiScope特殊多功能性平臺已經(jīng)成為納米科學的解決方案。





測量模式

空氣中接觸AFM;

液體接觸AFM(可選);

空氣中的半接觸原子力顯微鏡;

液體半接觸原子力顯微鏡(可選);

真正的非接觸式原子力顯微鏡;

動態(tài)力顯微鏡(DFM、FM-AFM);

耗散力顯微鏡;

Top模式;

相位成像;

側向力顯微鏡(LFM);

力調制;

導電原子力顯微鏡(可選);

I-Top模式(可選);

磁力顯微鏡(MFM);

開爾文探針(表面電位顯微鏡);

單通開爾文探頭;

電容顯微鏡(SCM)

電力顯微鏡(EFM);

單通道MFM/EFM(“平面掃描");

力曲線測量;

壓電響應力顯微鏡(PFM);

PFM Top模式;

納米光刻技術;

納米操縱;

STM(可選);

光電流成像模式(可選);

伏安特性測量(可選);

帶音叉的剪切力顯微鏡(ShFM);

音叉法向力顯微鏡。

液體測量模式(測試頭HE001)

接觸模式AFM;

半接觸原子力顯微鏡;

Top Mode;

相位成像;

側向力顯微鏡;

力調制;

力曲線測量;

納米蝕刻;

納米操縱。

SmartSPM掃描器和基座

閉環(huán)平板掃描器: 100 µm x 100 µm x 20 µm (±10 %)

掃描器非線性:XY≤0.05 %; Z≤0.05 %

噪聲水平:XY≤0.1 nm RMS(200 Hz帶寬,電容傳感器打開);XY≤0.02 nm RMS(100 Hz帶寬,電容傳感器關閉);Z<0.1 nm RMS (1000 Hz帶寬,電容傳感器開)

高頻掃描器:XY≥7 kHz; Z≥15 kHz

基座

  • 手動樣品定位范圍:25 mm×25 mm
  • 電動SPM測量頭定位范圍:1.6 mm×1.6 mm
  • 電動趨近量程:1.3 mm
  • 標準載玻片和蓋玻片樣品架
  • 樣品尺寸(可選):≥50.8 mm×50.8 mm×5 mm(中心25 mm×25 mm范圍內可以任意區(qū)域成像)

AFM測試頭HE001

激光波長:1300nm

激光對生物樣品無影響;

激光對光電測量無影響

系統(tǒng)噪聲:< 0.03 nm

全電動:4步進電機用于懸臂和光電二極管自動對準;

探針通道:為外部操作和探針提供自由通道

頂部和側向同時光路通道:帶平消色差物鏡,可同時10x,NA0.28頂部物鏡和20x,NA0.42側向物鏡

液體電池(可選)

手動樣品定位:15x15mm,定位分辨率1um;

培養(yǎng)皿支架:直徑35mm;

液體體積:1.5-2.5ml;

液體交換:雙管道

導電力AFM(選購)

電流范圍:100fA~10µA;

三檔量程自動切換(1nA, 100nA和10µA)

電壓范圍:-10~ +7V

電流噪聲:≤60fA(1nA量程)

兼容倒置光學顯微鏡:

紅外激光對光學成像無干擾;

可兼容以下顯微鏡:

尼康Ti-E、Ti-U、Ti-S、TE2000;奧林巴斯IX-71,IX-81;

相位反差、DIC和熒光技術(需本征光學聚光器);

可升級到TRIOS平臺,用于光譜和TERS操作。

光學顯微鏡

數(shù)值孔徑:NA 0.1;

放大倍率:從85x到1050x(19英寸監(jiān)視器,1/3英寸CCD);

水平視野:4.5~0.37mm;

手動變焦:12.5倍;

粗/精對焦單元:

兼容平顯色差物鏡:10x,NA 0.28和20x,NA 0.42和100x,NA0.7(取決于AFM測試頭)

軟件系統(tǒng)

自動準直系統(tǒng);

自動配置標準測量技術;

自動調節(jié)懸臂梁共振頻率;

能夠處理力曲線;

宏語言Lua,用于編程用戶函數(shù)、腳本和小構件;

能用DSP宏語言對控制器進行實時編程,無需重新加載控制軟件;

在坐標空間處理圖像的能力,包括制作橫截面、擬合和高達8級的多項式曲面減法;

FFT處理,具有在頻率空間處理圖像的能力,包括濾波和分析;

納米蝕刻和納米操縱;

高達5000x5000像素圖像的處理能力


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