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ZEISS Axio Vert.A1蔡司光學(xué)顯微鏡 詳細(xì)摘要： 顯微結(jié)構(gòu)和結(jié)構(gòu)分析：觀察方式問題。AxioVert.A1可以使用傳統(tǒng)和高級的觀察方式檢測大而重的樣品?？奢p松在明場、暗場、DIC、C-DIC、熒光和反射偏光等觀...
產(chǎn)品型號： 所在地： 更新時(shí)間：2025-07-17 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
ZEISS Matscope蔡司光學(xué)顯微鏡 詳細(xì)摘要： 你進(jìn)入數(shù)字世界的途徑iPad上的ZEISS成像應(yīng)用Matscope擁有你進(jìn)行測量所需的所有功能。然而，它和智能手機(jī)一樣好用。使用該軟件，您可以在一個(gè)包中獲得可靠...
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蔡司帶M3 XXT螺紋測針 詳細(xì)摘要： 這個(gè)類別的測針特別開發(fā)用于蔡司VASTXXT掃描探頭系統(tǒng)。其帶M3螺紋底座更大也因此更堅(jiān)固。材料選用時(shí)側(cè)重點(diǎn)也在輕量堅(jiān)固的結(jié)構(gòu)上。其底座和關(guān)節(jié)由高強(qiáng)度鈦合金制成...
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RDS關(guān)節(jié)式探頭座 詳細(xì)摘要： RDS實(shí)現(xiàn)靈活性的基礎(chǔ)同類產(chǎn)品中性能的關(guān)節(jié)式探頭座，通過可以到達(dá)不計(jì)其數(shù)位置的能力，使您的測量幾乎能覆蓋所有角度。RDS關(guān)節(jié)式探頭座尤其適合測量復(fù)雜零件，測量這...
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RST-P觸發(fā)式探頭 詳細(xì)摘要： RST-P任何探測方向的精確測量，由于巧妙地融合了多種技術(shù)功能，RST-P觸發(fā)式探頭適用于多種應(yīng)用，實(shí)現(xiàn)任何探測方向的精確測量。這種探頭通過單點(diǎn)探測，快速動態(tài)地...
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XDT觸發(fā)式（多點(diǎn)）探頭 詳細(xì)摘要： XDT任何探測方向的準(zhǔn)確測量由于巧妙結(jié)合了眾多技術(shù)特點(diǎn)，XDT多點(diǎn)探頭可以應(yīng)用于極其廣泛的領(lǐng)域，并在所有的探測方向上均獲得高精度的結(jié)果。在許多情況中，用戶需要關(guān)...
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VAST XTR gold旋轉(zhuǎn)掃描探頭 詳細(xì)摘要： VASTXTRgold旋轉(zhuǎn)掃描探頭以速度贏得高分全新的VASTXTRgold在探頭中整合了旋轉(zhuǎn)軸，使得測針可以靈活指向需要測量的特征，毫無困難地穿梭在縫隙之間，...
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LineScan光學(xué)探頭 詳細(xì)摘要： LineScan光速點(diǎn)云探頭無論是與名義CAD數(shù)據(jù)進(jìn)行對比還是創(chuàng)建新的CAD模型，當(dāng)有必要使用點(diǎn)云法捕獲整個(gè)表面的形狀時(shí)，LineScan是較佳的選擇。Line...
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ViScan光學(xué)探頭 詳細(xì)摘要： ViScan專業(yè)二維測量如今測試件的復(fù)雜度如此之高，單單使用接觸或光學(xué)式探頭已經(jīng)無法滿足需求。通過采用ViSCAN二維光學(xué)探頭，您可以在一臺機(jī)器上同時(shí)實(shí)現(xiàn)接觸和...
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VAST XT gold掃描探頭 詳細(xì)摘要： VASTXTRgold旋轉(zhuǎn)掃描探頭以速度贏得高分全新的VASTXTRgold在探頭中整合了旋轉(zhuǎn)軸，使得測針可以靈活指向需要測量的特征，毫無困難地穿梭在縫隙之間，...
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MCC Master Control Center管理系統(tǒng) 詳細(xì)摘要： 管理系統(tǒng)mcc管理系統(tǒng)技術(shù)機(jī)器、數(shù)據(jù)、程序、結(jié)果。如今，信息整理和通信管理變得日益重要–即使在坐標(biāo)測量領(lǐng)域也是如此。這需要有種技術(shù)，能夠?qū)崿F(xiàn)對機(jī)器、程序、日志和...
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DIMENSION逆向工程 詳細(xì)摘要： 逆向工程DIMENSION更快地從模型到工具坐標(biāo)測量機(jī)的逆向工程DIMENSION允許您利用蔡司測量機(jī)獲得數(shù)字化設(shè)計(jì)模型。DIMENSION為CAD設(shè)計(jì)師提供作...
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ZEISS Stemi 305 體視顯微鏡 詳細(xì)摘要： 緊湊的設(shè)計(jì)，高性能:您的立體顯微鏡集成照明和文件Stemi305是緊湊立體顯微鏡與5:1變焦生產(chǎn)環(huán)境中。不需要準(zhǔn)備樣品，就可以觀察高對比度和三維物體。較大的工作...
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ZEISS Stemi 508 體視顯微鏡 詳細(xì)摘要： 蔡司Stemi508你的復(fù)消色差立體顯微鏡與8:1變焦突出的圖像對比度和顏色保真Stemi508是一種緊湊、可靠的立體顯微鏡，用于工業(yè)檢測。復(fù)消色差鏡頭為您提供...
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掃描電子顯微鏡 詳細(xì)摘要： 兼具自動化與高性能的小型掃描電子顯微鏡解決方案在5kV低電壓下對BiCaCo陶瓷材料進(jìn)行背散射電子成像，從而研究這類鉆酸鹽材料的熱電性質(zhì)。使用樣品臺減速技術(shù)在1...
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離線機(jī)器人工位 詳細(xì)摘要： 離線機(jī)器人測量工位可用于生產(chǎn)流程外的測量任務(wù)。蔡司有一整套模塊化組件包，可根據(jù)不同客戶任務(wù)的需求進(jìn)行配置。利用蔡司技術(shù)組件，如傳感器和軟件模塊，實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定、高性能...
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在線測量機(jī)器人 詳細(xì)摘要： 典型的機(jī)器人測量工位由下列的組件構(gòu)成：用于機(jī)器人校準(zhǔn)和溫度補(bǔ)償?shù)难a(bǔ)償標(biāo)靶適用于機(jī)器人光學(xué)3D傳感器纜線路徑的管線包可與所有附屬系統(tǒng)和生產(chǎn)線PLC通訊的測量工位控...
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機(jī)器人引導(dǎo) 詳細(xì)摘要： 定位：對于機(jī)器人在工位的定位和下游加工步驟的完成而言，傳送零件位置的信息至關(guān)重要。應(yīng)用領(lǐng)域Pickamp;Place應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn)件特征的辨識讓您能檢查零件是否定位于...
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SEM 掃描電子顯微鏡 詳細(xì)摘要： SEM 掃描電子顯微鏡
產(chǎn)品型號： 所在地： 更新時(shí)間：2022-09-01 參考價(jià)： 面議 在線留言