所有的設(shè)備遵循ASTM B568， DIN 50 987和 ISO 3497等國家和國際標(biāo)準(zhǔn)。 HELMUT FISCHER制造用于鍍層厚度測量和材料分析的X射線熒光系統(tǒng)有超過17年的經(jīng)驗。

通過對所有相關(guān)過程包括X射線熒光測量法的**處理和使用了*新的軟件和硬件技術(shù)，F(xiàn)ISCHER公司的X射線儀器具有其的特點。****的WinFTM^®（版

本3（V.3）或版本6（V.6））軟件是儀器的核心。它可以使儀器在沒有標(biāo)準(zhǔn)片校準(zhǔn)并保證一定測量精度的情況下測量復(fù)雜的鍍層系統(tǒng)，同時可以對包含多達24種

元素的材料進行分析（使用WinFTM^®V.6軟件）

典型的應(yīng)用范圍如下：