Fischer CMS2 STEP庫侖法電位差測厚儀

CouloScope CMS STEP電解測厚儀的特征：
標準：DIN EN ISO 2177 ； ASTM B504
大屏幕點陣液晶顯示屏，可顯示文字與圖形：126 * 70 mm
可設(shè)置和儲存：50個應用程式、600個數(shù)據(jù)組；3 000個數(shù)據(jù)
統(tǒng)計：平均值、zui大值、zui小值、標準偏差、測量次數(shù)、Cp、Cpk 和直方圖
使用多層菜單和軟鍵，使操作更方便
RS232 接口可通過電纜和傳輸軟件將數(shù)據(jù)傳到 PC
模擬輸出： 0 ～ -18V
輸入阻抗： ＞ 2 KΩ
工作溫度： 10 ℃ ～ 40 ℃
儀器重量： 6 kg
電源： AC 220 V ，50-60 Hz；zui大功耗 ≤ 85 VA
尺寸： 350W * 140H * 200D mm
COULOSCOPECMS
CouloScope CMS STEP電解測厚儀
分步測量： 鍍層厚度和電位差
COULOSCOPE CMS STEP可用于測量：
Au、Cd、Cr、Pd、Ni、Sn、Zn、Pb、Pb60Sn40、Brass 等金屬
基材可為 Cu and Cu-Alloy、Al and Al-Alloy、Zn and Zn-Alloy、Ni、Fe、非金屬材料等

Fischer CMS2 STEP庫侖法電位差測厚儀

　　電位差，也稱作電勢差或電壓，是衡量單位電荷在靜電場中由于電勢不同所產(chǎn)生的能量差的物理量。電位差的單位制為伏特(V，簡稱伏)，常用的單位還有毫伏(mV)、微伏(μV)、千伏(kV)等。此概念與水位高低所造成的“水壓”相似。需要指出的是，“電壓”一詞一般只用于電路當中，“電勢差”和“電位差”則普遍應用于一切電現(xiàn)象當中。

應用領(lǐng)域

• 涂層部件的進貨檢驗，例如汽車工業(yè)中的鍍鉻鑲邊（帶有雙層鎳）

Couloscope CMS STEP測厚儀特點

測量法對多層涂鍍層系統(tǒng)的電位差測試，以及用于金屬或非金屬基材上所有的金屬涂鍍層的庫侖電量涂鍍層厚度測量（單層或多層系統(tǒng)）。

• 該多層鎳測厚儀器根據(jù)庫侖電量分析法進行測量，符合 DIN EN ISO 2177、50022 和 ASTM B764標準
• 通過電位差測試儀器可以簡便的對鎳鍍層之間的電化學的電位差進行測量。 可以用于測量銅基層、鎳多層涂層和鉻涂層的厚度。

Couloscope CMS STEP測厚儀測量版本：

4種不同類型的測量臺適合于測量各種種類的被測物體。

測量臺V18有1個新的測量槽設(shè)計。由于在每次測量后有一個泵會自動地排出電解液至儲液箱內(nèi)，也就不再需要手動清空測量槽了，一次注滿測量槽就可以多次測量。

測量臺V24允許靈活定位小工件。

測量臺V26主要為簡單和平面形狀的物體而設(shè)計。

測量臺V27主要為在線材上測量而設(shè)計。

COULOSCOPE CMS STEP庫倫測厚儀特性：

吸引人的設(shè)計，大的液晶顯示器和清晰安排的鍵盤。

操作簡單，菜單指引的操作提示。

電解區(qū)域直徑從0.6 mm （24 mils） 至3.2 mm （128 mils）。

大約100個預先定義好的應用程式適用于大多數(shù)的金屬鍍層，包括測量線材。

COULOSCOPE CMS STEP

在電鍍行業(yè)中，對多層鎳鍍層中各自層的同時的厚度和電極電位的測定變成了一個越來越重要的需求。的多鍍層組成為不含硫的半光亮鎳層和含硫的光亮鎳層。這兩個鎳層?reg;間足夠的電位差導致了光亮鎳層優(yōu)先腐蝕于半光亮鎳層。這種次序也就延遲了整個鎳層的穿透速度，并且給了基材相對于單鍍層更好的防腐保護。

COULOSCOPE CMS STEP可以通過定位于電位-時間表中相關(guān)部分的雙指針來方便地測出鍍層厚度和電位差。這個圖表能夠外部保存或通過RS232轉(zhuǎn)換到PC電腦中。