•COULOSCOPE CMS （庫侖測量系統(tǒng)）使用庫侖方法測量鍍層厚度。直觀的菜單指引系統(tǒng)，新的可以通過泵控制自動注液和清空測量槽的V18測量臺，以及SPC統(tǒng)計能力
•理想的適用于測量幾乎所有的金屬基材或非金屬基材上的金屬鍍層的厚度，包括多鍍層。使用在不能進(jìn)行或不需要進(jìn)行非破壞性測試方法的場合。
•準(zhǔn)確地測量范圍在0.05 - 40 µm (0.002 - 1.6 mils)之間的金屬鍍層。該設(shè)備可以存儲上百條預(yù)先定義好的鍍層/基材應(yīng)用，從單鍍層，例如鋅在鋼上，直至三鍍層，例如鉻層在鎳層再在銅層或塑料上。
•存儲容量允許記錄和保存上千條的測量結(jié)果。
•可以通過RS232接口將存儲的數(shù)據(jù)打印或輸出到PC電腦上。

COULOSCOPE CMS （庫侖測量系統(tǒng)）和COULOSCOPE CMS step功能對比：

COULOSCOPE CMS STEP

分步測量 (Simultaneous Thickness and Electrochemical Potential) 是一種已定型很久的測試方法，用來測定多層鎳鍍層系統(tǒng)中各個單個的鍍層厚度以及各鍍層之間的電化學(xué)電位差。

COULOSCOPE® CMS STEP儀器高的電壓分辨率可以測量頂層為微孔鎳或微裂紋鎳與下層光亮鎳之間的電位，以及光亮鎳和半光亮鎳之間的電位。（若需要，還可以是光亮鎳和半光亮鎳之間的高的硫化鎳）。

主要特性：

? 吸引人的設(shè)計，大的液晶顯示器和清晰安排的鍵盤。
? 操作簡單，菜單指引的操作提示。
? 電解區(qū)域直徑從0.6 mm (24 mils) 至3.2 mm (128 mils)。
? 大約100個預(yù)先定義好的應(yīng)用程式適用于大多數(shù)的金屬鍍層，包括測量線材。
? 可用于測量Au、Cd、Cr、Pd、Ni、Sn、Zn、Pb、Pb60Sn40、Brass 等金屬
? 基材可為 Cu and Cu-Alloy、Al and Al-Alloy、Zn and Zn-Alloy、Ni、Fe、非金屬材料等

4種測量臺：

COULOSCOPE® CMS STEP 雙層鎳鍍層測量版本 4種不同類型的測量臺適合于測量各種種類的被測物體。