三目正置金相顯微鏡XJ-53C配置了立桿式的機架和移動工作臺，顯微鏡主體可大范圍升降和360°旋轉(zhuǎn)。尤其適合于觀察有一定高度的大工件試樣，也適用于薄片試樣的金相、礦相、巖相、晶體等結(jié)構(gòu)分析和鑒別，材料表面的某些特征（劃痕、裂紋、噴涂的均勻性），化學(xué)顆粒等方面的研究?？偡糯蟊稊?shù)：50X-625X 
◆性能特點： 
1、配置了立桿式的機架，適合于觀察有一定高度的大工件試樣。
2、采用了優(yōu)質(zhì)的光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計，視野寬闊，視場平坦,成像清晰。 
3、配置了帶偏光裝置落射照明系統(tǒng)，適合觀察高反光材料表面。
4、兩路光路自由切換輸出，一路用于觀察，一路連接攝像裝置。
◆典型應(yīng)用：
1、分析金屬、礦相內(nèi)部結(jié)構(gòu)組織。2、電子廠PCB板、芯片檢驗。
2、觀察材料表面的某些特性， 如：劃痕、裂紋、噴涂的均勻性。

一、顯微鏡參數(shù)：

二、目鏡參數(shù)：

三、物鏡參數(shù)：