一、產品簡介:
研究級三目透反射金相顯微鏡XJ-58C適合觀察金相試樣,電子芯片等樣品。是金屬學、礦物學、精密工程學、電子學等研究的理想儀器。總放大倍數(shù):50—800X
◆產品特點:
1、采用無限遠色差校正光路系統(tǒng)。
2、無限遠長工作距平場物鏡和大視野平場目鏡,視場寬闊平坦清晰。
3、配置了起偏鏡與檢偏鏡裝置,可實現(xiàn)對金相、礦相偏光顯微觀察。
4、配置了落射與透射兩套照明系統(tǒng),可觀察透明試樣與不透明試樣。
5、整機采用了防霉處理,有效保護了鏡頭,延長了儀器的使用壽命。。
◆典型應用:
1、分析金屬、礦相內部結構組織。2、電子廠PCB板、芯片檢驗。
2、觀察材料表面的某些特性, 如:劃痕、裂紋、噴涂的均勻性。
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