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雜散光對紫外可見分光光度計分析測試誤差的影響可分成兩種類型。種是雜散光的波長與測試波長相同；它是由于測試波長因為某些原因而偏離正常光路，在不通過試樣的情況下，直接照射到光電轉(zhuǎn)換器上。引起這種雜散光的原因，大多是由于光學元件、機械零件的反射和漫反射所引起。這種雜散光可以通過一個對測試波長不透明的樣品來檢查。當發(fā)現(xiàn)放在比色皿中的不透明樣品的透射比不為零時，說明儀器中有這種雜散光存在。但必須注意，當儀器存在零點誤差時，有可能造成混淆。如果在不透明的樣品上涂上白色，則可增加樣品本身反射令甲果，可以提高測量靈敏度。

雜散光對紫外可見分光光度計分析測試誤差影響的第二種類型，是指測試波長以外的、偏離正常光路而到達光電轉(zhuǎn)換器的光線。它通常是由光學系統(tǒng)的某些缺陷所引起的。如光學元件的表面被擦傷、儀器的光學系統(tǒng)設(shè)計不好、機械零部件加工不良，使光路位置錯移等。
通常情況下，我們所講的雜散光，是指包括上述兩種雜散光在內(nèi)的雜散光。