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沖擊試驗(yàn)箱導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)方案

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

產(chǎn)地	國(guó)產(chǎn)	產(chǎn)品大小	中型
產(chǎn)品新舊	全新	結(jié)構(gòu)類型	立式

冷熱沖擊試驗(yàn)箱導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)方案，本系統(tǒng)針對(duì) PCB 通路電阻測(cè)試中阻值低、測(cè)試精度高的要求，克服了手工測(cè)量過(guò)程中可能出現(xiàn)的干擾、不穩(wěn)定等技術(shù)問(wèn)題，實(shí)現(xiàn)了對(duì) PCB 多通道低阻測(cè)試的解決方案。本系統(tǒng)不僅可以很好地替代平時(shí)的手工操作，而且還可以對(duì)放置于環(huán)境試驗(yàn)箱內(nèi)做高低溫試驗(yàn)的 PCB 板進(jìn)行長(zhǎng)期在線監(jiān)測(cè)，從而很方便的觀察 PCB 板通路在不同環(huán)境下的阻值變

詳細(xì)介紹

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冷熱沖擊試驗(yàn)箱導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)方案

本系統(tǒng)針對(duì) PCB 通路電阻測(cè)試中阻值低、測(cè)試精度高的要求，克服了手工測(cè)量過(guò)程中可能出現(xiàn)的干擾、不穩(wěn)定等技術(shù)問(wèn)題，實(shí)現(xiàn)了對(duì) PCB 多通道低阻測(cè)試的解決方案。本系統(tǒng)不僅可以很好地替代平時(shí)的手工操作，而且還可以對(duì)放置于環(huán)境試驗(yàn)箱內(nèi)做高低溫試驗(yàn)的 PCB 板進(jìn)行長(zhǎng)期在線監(jiān)測(cè)，從而很方便的觀察 PCB 板通路在不同環(huán)境下的阻值變化情況。

產(chǎn)品特點(diǎn)

1．獨(dú)立溫度監(jiān)測(cè)系統(tǒng)，使測(cè)試系統(tǒng)可適用任何環(huán)境試驗(yàn)箱。

2．采用高可靠性、高精度的美國(guó) KEITHLEY 測(cè)試儀器，并經(jīng)過(guò) CE 認(rèn)證，在計(jì)量方面均可溯源到國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)。

3．面向用戶開(kāi)發(fā)的測(cè)試軟體，充分滿足不同用戶的要求，使測(cè)試軟體的操作介面更完善、更方便。

4．模組式的測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)，使維修方便、快捷；具有良好的可擴(kuò)展性。

5．采用反應(yīng)時(shí)間小于 3 毫秒并且壽命高達(dá) 1000 萬(wàn)次的開(kāi)關(guān)控制系統(tǒng)，確保測(cè)試的可靠性。

6．獨(dú)立的 UPS 供電系統(tǒng)，使測(cè)試系統(tǒng)能夠保證測(cè)試資料的可靠性，可以保證在突然斷電時(shí)測(cè)量資料不丟失。

7. 細(xì)小的模塊外接插頭，使每個(gè)插頭能夠方便的通過(guò)環(huán)境試驗(yàn)的通孔。

冷熱沖擊試驗(yàn)箱導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)方案

系統(tǒng)特點(diǎn)

1. 模塊化配置采用多機(jī)箱并聯(lián)使用，每個(gè)機(jī)箱上最多配 4 個(gè)模塊，每個(gè)模塊上有 5 個(gè)小插頭，每個(gè) 小插頭有 6 路測(cè)試通道，每個(gè)機(jī)箱最多有 30 通道，方便系統(tǒng)維修。

2. 自適應(yīng)測(cè)試電流為了方便用戶能夠在一個(gè)環(huán)境試驗(yàn)箱中做多種產(chǎn)品，不同測(cè)試電流的試驗(yàn)，我們采用以被測(cè)產(chǎn)品電阻值的范圍設(shè)定測(cè)試電流，比如：0 – 20mΩ測(cè)試電流為 1A，20mΩ - 200 mΩ測(cè)試電流為 100mA，大于 200mΩ測(cè)試電流為 10mA，這樣的設(shè)置，就可以在同一試驗(yàn) 中，一次性做多種批次的產(chǎn)品。

3. 單獨(dú)的系統(tǒng)軟件算法該系統(tǒng)軟件具有較為復(fù)雜的軟件算法，可以自動(dòng)剔除環(huán)境試驗(yàn)箱內(nèi)部或試驗(yàn)環(huán)境中的噪聲所帶來(lái)的對(duì)測(cè)試值影響，使電阻測(cè)試值滿足測(cè)試精準(zhǔn)度。

4. 溫度測(cè)量具有共 10 通道溫度測(cè)試通道，標(biāo)準(zhǔn)配置 4 個(gè)，在設(shè)置條件中任意選擇那幾個(gè)溫度測(cè)試通道，既可以設(shè)定某個(gè)溫度通道為主溫度點(diǎn)，也可以設(shè)定大值或平均值做為溫度到達(dá)依據(jù)，進(jìn)行電阻測(cè)量。