SEB10KF3-EN歐規(guī)雙晶直探頭簡介：
SEB10KF3-EN歐規(guī)雙晶直探頭由啟航檢測科技（上海）有限公司優(yōu)惠價供應(yīng)美國GE/SEB10KF3-EN歐規(guī)雙晶直探頭
特性
獨(dú)立的聲波發(fā)射和接收單元
縱波垂直傳輸
小焦距探頭具有非常好的近場分辨率
使用耐磨的塑料延遲塊，即使在粗糙或彎曲的表面也能很好耦合性
延遲塊由一個金屬環(huán)保護(hù)以防磨損
在焦點內(nèi)特別適合剩余壁厚的測量
加上特殊的延遲塊（定制產(chǎn)品）能夠在高溫表面測量
應(yīng)用
| SEB..
用于探測棒材、坯塊、軸、桿等中心缺陷，經(jīng)常用作在中等和大尺寸物體（如鍛造或鑄造的物體）中關(guān)鍵部位小缺陷的探測（如氣孔、微孔和熱裂縫）。更適用于平行物體表面的缺陷定位（如層狀結(jié)構(gòu)缺陷、渣孔以及厚鋼板中的分隔線）。 | SEB1銅棒中心缺陷 |
| MSEB..
常用于有類型小零件（如螺桿、螺釘、螺母、銷釘、軸承環(huán)、軸承和裝配材料）的檢測，也可用于壁厚和剩余壁厚的測量（如被腐蝕和侵蝕的管子、容器和機(jī)械零件）。 | MSEB5彎曲處剩余壁厚的測量 | MSEB4金屬融渣裂縫 |
| SEB..KF 體積小巧的小直徑特殊探頭，用于近表面小缺陷的探測。小巧的形狀使這種類型的探頭可以用于一些特殊位置或者不易接近位置的檢測。 | SEB10KF3插口焊接點 |
| 系列 | 型號 | 頻率 (MHz) | 焦距 (mm) | 單晶片尺寸 (mm) | 外觀尺寸 | 帶寬 | 接口類型 | 接口方向 |
| SEB | SEB 1 | 1 | 20 | Φ21半圓 | 類型15 | 40 | 雙聯(lián) Lemo 00 | 側(cè)裝 |
| SEB 1-EN | 1 | 20 |
| SEB 2 | 2 | 15 | 7x18 |
| SEB 2-EN | 2 | 15 |
| SEB 2-0° | 2 | 30 |
| SEB 2-EN-0° | 2 | 30 |
| SEB 4 | 4 | 12 | 6x20 |
| SEB 4-EN | 4 | 12 |
| SEB 4-0° | 4 | 25 |
| SEB 4-EN-0° | 4 | 25 |
| MSEB | MSEB 2 | 2 | 8 | Φ11半圓 | 類型16 | 40 |
| MSEB 2-EN | 2 | 8 |
| MSEB 4 | 4 | 10 | 3.5x10 |
| MSEB 4-EN | 4 | 10 |
| MSEB 4-EN-0° | 4 | 18 |
| MSEB 4-0° | 4 | 18 |
| MSEB 5 | 5 | 10 | Φ9半圓 |
| SEB KF | SEB 2 KF 5 | 2 | 6 | Φ8半圓 | 類型17 | 30-60 | Microdot X2 |
| SEB 4 KF 8 | 4 | 6 |
| SEB 4 KF 8-EN | 4 | 6 |
| SEB 5 KF 3 | 5 | 3 |
| SEB 10 KF 3 | 10 | 3 | Φ5半圓 | 類型18 |
| SEB 10 KF 3-EN | 10 | 3 |
應(yīng)用
用于檢測簡單形狀的工件中平行于表面的缺陷
鍛件、鑄件
金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料
板材、棒材、方形材
容器、機(jī)器零件、殼體
特點
縱波單晶探頭
適合DGS缺陷評判
性能參數(shù)誤差小，適合高精度檢測
可更換保護(hù)膜，保護(hù)探頭不被磨損
柔性保護(hù)膜，即使是在粗糙或輕微彎曲的表面上也能很好地耦合
合金壓鑄殼體，堅固耐用
用于高溫檢測時可加裝高溫延遲塊（定制產(chǎn)品）
| 系列 | 型號 | 頻率 (MHZ) | 接口方向 | 帶寬 | 晶片直徑 | 接口類型 | 保護(hù)膜 |
| BS | B1S-EN | 1 | 側(cè)裝 | 25 | 24mm | Lemo 01 | ES45 |
| B1S | 1 |
| B2S | 2 |
| B2.25SE | 2.25 |
| B4S | 4 |
| B5S | 5 |
| B1S-O | 1 | 頂裝 |
| B2S-O | 2 |
| B4S-O | 4 |
| B5S-O | 5 |
| 系列 | 型號 | 頻率(MHZ) | 接口方向 | 帶寬 | 晶片直徑 | 接口類型 | 保護(hù)膜 |
| MBS | MB1S | 1 | 側(cè)裝 | 25 | 10mm | Lemo 00 | ES24 |
| MB2S | 2 |
| MB2S-EN | 2 |
| MB4S | 4 |
| MB4S-EN | 4 |
| MB5S | 5 |
| MB6S | 6 |
| MB2S-O | 2 | 頂裝 |
| MB4S-O | 4 |
| MB5S-O | 5
|
裝有兩個晶片的探頭，一個作為發(fā)射器，另一個作為接收器。又稱分割式探頭、或者聯(lián)合雙探頭。雙晶探 頭主要由插座、外殼、隔聲層、發(fā)射晶片、接收晶片、延遲塊等組成。
| 頻率(MHz) | 晶片尺寸(mm) | 型號 | 焦距 | 插座 |
| P型 | C型 |
| 1.25 | 20 | 1.25P20 F5 | 1.25C20 F5 | 5 | Q6(雙) |
| 1.25P20 F15 | 1.25C20 F15 | 15 |
| 2.5 | 10 | 2.5P10 F5 | 2.5C10 F5 | 5 |
| 2.5P10 F8 | 2.5C10 F8 | 8 |
| 2.5P10 F10 | 2.5C10 F10 | 10 |
| 14 | 2.5P14 F5 | 2.5C14 F5 | 5 |
| 2.5P14 F10 | 2.5C14 F10 | 10 |
| 2.5P14 F15 | 2.5C14 F15 | 15 |
| 2.5P14 F20 | 2.5C14 F20 | 20 |
| 2.5P14 F30 | 2.5C14 F30 | 30 |
| 20 | 2.5P20 F5 | 2.5C20 F5 | 5 |
| 2.5P20 F10 | 2.5C20 F10 | 10 |
| 2.5P20 F15 | 2.5C20 F15 | 15 |
| 2.5P20 F20 | 2.5C20 F20 | 20 |
| 2.5P20 F30 | 2.5C20 F30 | 30 |
| 5 | 6 | 5P6 F5 | 5C6 F5 | 5 |
| 5P6 F8 | 5C6 F8 | 8 |
| 8 | 5P8 F5 | 5C8 F5 | 5 |
| 5P8 F8 | 5C8 F8 | 8 |
| 5P8 F10 | 5C8 F10 | 10 |
| 10 | 5P10 F5 | 5C10 F5 | 5 |
| 5P10 F8 | 5C10 F8 | 8 |
| 5P10 F10 | 5C10 F10 | 10 |
| 14 | 5P14 F5 | 5C14 F5 | 5 |
| 5P14 F10 | 5C14 F10 | 10 |
| 5P14 F15 | 5C14 F15 | 15 |
| 5P14 F20 | 5C14 F20 | 20 |
| 5P14 F30 | 5C14 F30 | 30 |
| 20 | 5P20 F5 | 5C20 F5 | 5 |
| 5P20 F10 | 5C20 F10 | 10 |
| 5P20 F15 | 5C20 F15 | 15 |
| 5P20 F20 | 5C20 F20 | 20 |
| 5P20 F30 | 5C20 F30 | 30 |
應(yīng)用范圍：
“P"通用型系列：用于需要高靈敏度與穿透力的通用檢測場合。
“C"壓電復(fù)合材料系列：具有高靈敏度，高帶寬，高分辨力以及穿透力強(qiáng)的特點，用于粗晶、高衰減材料檢測時，可獲得非常好的檢測效果。
啟航檢測科技（上海）有限公司是一家*從事無損檢測設(shè)備代理的公司，主營聲波檢測設(shè)備及探頭、聲波相控陣、聲TOFD探傷儀、聲波相控陣探頭以及數(shù)字成像平板等*設(shè)備，有奧林巴斯NDT、美國磁通、美國sherwen、汕、新美達(dá)、美國GE等多家產(chǎn)品。長期以來，公司堅持走科技創(chuàng)新之路，不斷拓展產(chǎn)品線及產(chǎn)品技術(shù)，加大應(yīng)用技術(shù)人員投入。
公司提供的無損檢測儀器設(shè)備包括工業(yè)X光機(jī)、工業(yè)CT、CR、DR、工業(yè)洗片機(jī)、聲波探傷儀、聲波相控陣、聲波測厚儀、聲波探頭、渦流探頭、渦流陣列探傷儀、管材的無損檢測解決方案、渦流陣列探傷儀、聲導(dǎo)波、聲TOFD探傷儀、渦流陣列、磁粉探傷機(jī)、著色滲透劑、熒光滲透線、工業(yè)內(nèi)窺鏡、大型復(fù)合材料聲波自動化檢測系統(tǒng)、大型聲波板材檢測系統(tǒng)、大型聲波管材檢測系統(tǒng)、大型壓力容器聲波檢測系統(tǒng)、汽車點焊聲波成像分析儀和其它實驗室儀器。
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