LeicaDM12000M簡介用于12"精密的觀察和復(fù)檢系統(tǒng)LeicaDM12000M徠卡DM12000M全新的光學(xué)設(shè)計(jì),可以提供宏觀模式快速初檢,以及傾斜紫外光路功能(OUV,傾斜紫外觀察模式)不單提升了分辨率還提高了檢查12英寸(300毫米)硅片的產(chǎn)能

 

Leica DM12000 M

簡介

用于12"精密的觀察和復(fù)檢系統(tǒng) Leica DM12000M

        徠卡DM12000M全新的光學(xué)設(shè)計(jì),可以提供宏觀模式快速初檢,以及傾斜紫外光路功能(OUV, 傾斜紫外觀察模式) 不單提升了分辨率還提高了檢查12英寸(300毫米)硅片的產(chǎn)能。

的 LED 照明技術(shù) 一體化設(shè)計(jì)并整合在顯微鏡上. 低熱輻射和機(jī)身內(nèi)一體化技術(shù)確保了的機(jī)身外空氣流動(dòng)狀態(tài)。低能耗的節(jié)電設(shè)計(jì)大大延長了使用壽命,符合綠色環(huán)保的理念。

一鍵式的操控設(shè)計(jì)使用戶可以輕易地完成倍率轉(zhuǎn)換和相關(guān)的照明和相襯效果。

   

為您帶來的優(yōu)勢

  

超過傳統(tǒng)觀察4倍以上的高分辨

低倍宏觀模式為您提供了比普通觀察技術(shù)4倍以上的視野。    全新的傾斜紫外觀察模式(OUV) 融合了紫外以及傾斜光技術(shù),

                                                                                                            使您可以從多種角度來觀察樣品。

  

人體工學(xué)設(shè)計(jì)                                                                                  LED 照明
化的適合不同程度操作者的 長時(shí)間直覺操作設(shè)計(jì)。    一體化設(shè)計(jì)的 LED 照明Integrated LED Illumination 使機(jī)身四周的
                                                                                                            空氣流動(dòng)達(dá)到理想狀態(tài).長壽命與低能耗給使用企業(yè)帶來巨大的成本節(jié)省。
 
 

    LEICA DM8000M LEICA DM12000M 產(chǎn)品特點(diǎn)縮短檢查用時(shí)，提高檢查效率自動(dòng)聚焦附件透射光檢查照明專用的自動(dòng)聚焦附件可配合所有的反射光照明觀察方式，甚至包括暗視場和微分干涉相襯觀察。實(shí)現(xiàn)快速和精確的自動(dòng)對(duì)焦，甚至觀察方式轉(zhuǎn)換時(shí)也能實(shí)時(shí)準(zhǔn)確的找到焦面。兩種照明裝置可選，通用型及高數(shù)值孔徑型。為FPD，MASK板檢查提供合適的照明，并且可配備起偏鏡，實(shí)現(xiàn)投射光簡易偏光觀察。高反差，更高分辨率，更高倍率檢查用于光刻膠殘留檢查的熒光觀察方式熒光分光鏡模塊 UV光學(xué)系統(tǒng)可以提供更高的反差和分辨率，分辨率可達(dá)0.12μm。

   備有U.B.G等多種熒光方式可選，用于光顆膠殘留以及OLED檢查。方便的通訊接口用于顯微鏡倍率和孔徑光闌的控制和參數(shù)獲得 RS232C用于晶圓以及器件，甚至焊腳的內(nèi)部檢查近紅外線觀察附件標(biāo)配包括一個(gè)RS232C接口，使得用PC控制顯微鏡電動(dòng)部分成為可能，并且可以實(shí)現(xiàn)使工藝線上的幾臺(tái)顯微鏡都在同樣的設(shè)定狀態(tài)下工作。包括專門的紅外物鏡等附件，對(duì)從可見光到近紅外波段光線的像差做矯正，用于IC深層或內(nèi)部檢查，可實(shí)現(xiàn)對(duì)WAFER BUMP的全面檢查自動(dòng)線寬CD測量附件以亞像素技術(shù)實(shí)現(xiàn)高度精確的CD測量，

    OVERLAY測量，套刻測量以上是徠卡DM8000M DM12000M 半導(dǎo)體檢查顯微鏡的詳細(xì)信息，如果您對(duì)徠卡DM8000M DM12000M 半導(dǎo)體檢查顯微鏡的價(jià)格、廠家、型號(hào)、圖片有什么疑問，請聯(lián)系我們獲取徠卡DM8000M DM12000M半導(dǎo)體檢查顯微鏡的信息。