基于S系列源表的集成電路教學(xué)實驗平臺認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表，普賽斯教學(xué)實驗平臺采用一體化設(shè)計，集成了數(shù)字源表、LCR電橋、萬用表、示波器等通用儀表；搭配豐富的測試夾具及實驗教材，滿足基礎(chǔ)實驗教學(xué)需求；測試設(shè)備簡單易用，接線簡單，方便學(xué)生動手操作；

應(yīng)用領(lǐng)域：

分立器件
■MOSFET/BJT靜態(tài)特性參數(shù)測試實驗
■MOSFET/BJT動態(tài)參數(shù)測試實驗
■MOSFET開關(guān)特性測試實驗
■MOSFET電容特性測試實驗
■整流二極管性能測試實驗
■光耦特性測試實驗
■激光器LⅣ特性測試實驗
■三極管放大特性測試實驗
半導(dǎo)體材料
■材料霍爾效應(yīng)測試實驗
■材料電阻率測試實驗
■材料漏電流測試實驗
IC類
■集成基準(zhǔn)電壓源性能測試實驗
■壓控振蕩器測試實驗
■邏輯IC功能和參數(shù)測試實驗
■集成運(yùn)放特性參數(shù)實驗
■邏輯芯片I/O口特性測試實驗

平臺特色：

基于高精度通用儀表的微電子綜合實驗平臺，提供多種實驗測量環(huán)境；

采用一體化設(shè)計，集成了數(shù)字源表、LCR電橋、萬用表、示波器等通用儀表；

貼合集成電路測試相關(guān)實驗案例，支撐集成電路相關(guān)課程資源和理論教學(xué)；

全國產(chǎn)化儀表，符合當(dāng)前國家政策，進(jìn)口儀表有禁運(yùn)風(fēng)險； 

搭配豐富的測試夾具及實驗教材，滿足基礎(chǔ)實驗教學(xué)需求；

測試器件采用STO封裝，即插即用，方便更換;

測試設(shè)備簡單易用，接線簡單，方便學(xué)生動手操作；

以基礎(chǔ)平臺為起點(diǎn)，可逐步升級，滿足日益增加的實驗室測試需求；

輔助老師編寫教案，提高教學(xué)效率，降低課程開發(fā)的難度；

欲了解更多基于S系列源表的集成電路教學(xué)實驗平臺信息，歡迎隨時上普賽斯儀表官&網(wǎng)咨詢；普賽斯以自主研發(fā)為導(dǎo)向，深耕半導(dǎo)體測試領(lǐng)域，在I-V測試上積累了豐富的經(jīng)驗，先后推出了直流源表，脈沖源表、插卡式源表、脈沖恒流源、高壓程控電源、功率器件靜態(tài)測試系統(tǒng)、半導(dǎo)體參數(shù)分析儀等測試設(shè)備，廣泛應(yīng)用于高校研究所、實驗室，新能源，光伏，風(fēng)電，軌交，變頻器等場景。