TrackScan跟蹤式三維掃描儀TrackScan跟蹤式三維掃描系統(tǒng)，無需貼點(diǎn)即可進(jìn)行高精度三維掃描

TrackScan跟蹤式三維掃描儀

TrackScan跟蹤式三維掃描系統(tǒng)，無需貼點(diǎn)即可進(jìn)行高精度三維掃描。結(jié)合了紅藍(lán)雙色激光掃描技術(shù)和靈活高效的接觸式光筆測量功能，可快速、準(zhǔn)確地采集物體整體尺寸和關(guān)鍵部位的高精度三維數(shù)據(jù)。

TrackScan擁有紅藍(lán)雙色激光技術(shù)，紅光模式高效靈活，藍(lán)光模式0.020mm超高分辨率，可輕松捕捉物體細(xì)節(jié)。同時，選配的T-Probe便攜式三坐標(biāo)測量筆，可滿足基準(zhǔn)孔、隱藏點(diǎn)、特征等關(guān)鍵部位的測量需求。

TrackScan可應(yīng)用于質(zhì)量控制、產(chǎn)品開發(fā)、逆向工程等多個方面，還可以提供開發(fā)接口，與機(jī)械人協(xié)同工作，實(shí)現(xiàn)在線三維測量。

技術(shù)特點(diǎn)
無需貼點(diǎn)
基于反光標(biāo)記點(diǎn)跟蹤技術(shù)，TrackScan掃描無需貼點(diǎn)，大大提高了工作效率。

雙色激光
紅光掃描模式高效靈活，藍(lán)光掃描模式0.020mm超高分辨率，輕松獲取物體細(xì)節(jié)。

動態(tài)參考
利用動態(tài)參考功能，TrackScan能在物體自由移動過程中正常工作，精準(zhǔn)獲取物體完整外形三維數(shù)據(jù)。

支持接觸式測量
T-Probe靈活性*，測量范圍廣，單點(diǎn)重復(fù)性0.030mm，用于接觸測量基準(zhǔn)孔、隱藏點(diǎn)、特征等關(guān)鍵部位。

復(fù)合定位
支持光學(xué)跟蹤和標(biāo)記點(diǎn)跟蹤兩種模式，根據(jù)現(xiàn)場情況靈活切換。

測量范圍自由擴(kuò)展
通過調(diào)整E-Track的位置，可對測量范圍自由靈活地擴(kuò)展，且始終保持穩(wěn)定的高精度。