該熱老化試驗(yàn)箱主要是針對(duì)電子、電工產(chǎn)品，以及其原器件和其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。

    該熱老化試驗(yàn)箱主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在高溫條件下，對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試，

來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。
 

熱老化試驗(yàn)箱/主要技術(shù)指標(biāo)：

1、溫度范圍：RT+10℃～+150℃

2、溫度波動(dòng)度：±0.5℃

3、溫度偏差：≤±2℃

4、工作尺寸：400*400*1000

5、功率：3KW

6、層架：4層，不帶旋轉(zhuǎn)架

富易達(dá)儀器