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參考價	面議

產(chǎn)品簡介

產(chǎn)品用途：高低溫（濕熱）低氣壓試驗箱用于航空、航天、信息、電子等領(lǐng)域，儀器儀表、電工產(chǎn)品、材料、零部件、設(shè)備在低氣壓、高溫、低溫或高低溫濕熱低氣壓環(huán)境下的環(huán)境適應(yīng)性與可靠性試驗，并或同時對測試件通電進(jìn)行電氣性能參數(shù)的測量

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品用途：

高低溫（濕熱）低氣壓試驗箱用于航空、航天、信息、電子等領(lǐng)域，儀器儀表、電工產(chǎn)品、材料、零部件、設(shè)備在低氣壓、高溫、低溫或高低溫濕熱低氣壓環(huán)境下的環(huán)境適應(yīng)性與可靠性試驗，并或同時對測試件通電進(jìn)行電氣性能參數(shù)的測量。

產(chǎn)品特點：

新型制冷：-120℃超低溫制冷能力，滿足用戶超低溫試驗需求

有效節(jié)能：低溫試驗時降低電力消耗30%以上

性能突出：性能指標(biāo)優(yōu)于標(biāo)要求

緊湊靈便：外形緊湊，靈活移動，節(jié)約占地空間

操作簡捷：人性化操作界面，一建啟停，無需培訓(xùn)

多重保護(hù)：確保人員、試件及設(shè)備無憂使用

執(zhí)行及滿足標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T 10590-2008 低氣壓試驗箱技術(shù)條件

GB/T 2423.25-2008 低溫/低氣壓綜合試驗方法

GB/T 2423.26-2008 高溫/低氣壓綜合試驗方法

GJB 150.2A -2009 低氣壓高度試驗方法（快速降壓除外）

GJB 150.3A-2009 高溫試驗方法

GJB 150.4A-2009 低溫試驗方法

GJB 150.24A-2009 溫度-濕度-振動-高度試驗方法（振動除外）

GJB 360A-2009 電子及電氣元件試驗方法105低氣壓試驗的要求

GB/T 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法溫度試驗設(shè)備

GB/T 5170.10-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備

技術(shù)指標(biāo)

產(chǎn)品名稱		高低溫（濕熱）低氣壓試驗箱
產(chǎn)品型號		MQ-TL/THL100	MQ-TL/THL250	MQ-TL/THL500	MQ-TL/THL1000
內(nèi)箱容積	升/L	100	250	500	1000
內(nèi)箱尺寸	WDH（cm）	45×45×50	60×60×70	80×80×80	100×100×100
外形尺寸	WDH（cm）	98×100×175	110×130×180	125×150×198	145×180×228
性能指標(biāo)	溫度范圍	A、-40℃～150℃ B、-70℃～150℃ C、-120℃～150℃
	濕度范圍	A、10%～98%RH B、 20%～98%RH C、30%～98%RH (可選擇帶濕度)
	溫度波動度	≤±0.5℃(常壓，空載)
	溫度均勻度	≤2.0℃(常壓，空載)
	溫度偏差	≤±2.0℃(常壓，空載)
	升溫速率	RT～+150℃≤40min
	降溫速率	A、+25℃～-40℃≤30min B、+25℃～-70℃≤80min
	氣壓范圍	常壓～0.5kPa
	降壓時間	常壓～1.0kPa≤30min（箱內(nèi)干燥時）
	壓力偏差	≥40kPa：±2kPa；40kPa～2kPa：±5%；≤2kPa: ±0.1kPa；
	壓力恢復(fù)時間	≤10kPa/min
制冷方式		壓縮機制冷
冷卻方式		F、風(fēng)冷 W、水冷