設備性能參數(shù)

工作室尺寸

5、10、20、50、100立方米(客戶需求定做)

溫度范圍

-20～150℃、-40～150℃、-60～150℃、-70～150℃、-80～150℃可以按照要求選定

溫度波動度

≤±0.5℃（空載）

溫度偏差

≤±2.0℃（空載）

濕度范圍

20%～98%

濕度波動度

≤+2 -3%R.H

降溫時間

平均降溫速率為0.7℃～1.5℃/min；（非線性，空載）

升溫時間

平均升溫速率為3.0℃～5.0℃/min；（非線性，空載）

快速溫度變化試驗箱

快速降溫：3℃～10℃/min；快速升溫：5℃～10℃/min；（根據(jù)客戶要求選定）

備注

其他溫度和尺寸可根據(jù)要求定做，設備以實物為準，試驗數(shù)據(jù)均在環(huán)境溫度+25℃工作室空載條件下測得

其他

每個產(chǎn)品都可以根據(jù)客戶的要求定做，保證設備的適用性和高效節(jié)能

溫/濕度控制選擇嵌入式計算機系統(tǒng)，大屏幕真彩觸摸屏自動化控制，操作簡單

試驗室門裝有大觀察窗，可方便觀察試驗品的試驗狀態(tài)

裝有*的安全、保護裝置：漏電保護器、超溫保護器、缺相保護器、斷水保護器

高低溫試驗箱、恒溫恒濕試驗箱、高低溫濕熱試驗箱、高低溫交變濕熱試驗箱、高溫老化箱以上試驗室可根據(jù)客戶要求定做

符合標準（但不限于）

GB10592-2008 高、低溫試驗箱技術條件(溫度變化

GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：（IEC60068-2-1:2007） 試驗A：低溫試驗方法

GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：（IEC60068-2-1：2007） 試驗 B：高溫試驗方法

GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：（IEC60068-2-78:2001） 試驗 Cab：恒定試驗方法

GB/T2423.4-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：（IEC60068-2-30:2005） 試驗 Db：交變濕熱試驗方法

GB/T2423.9-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：（IEC60068-2-4） 試驗 Cb：交變濕熱試驗方法

GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：（IEC68-2-14） 試驗 N：溫度變化

GJB150.3A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：高溫試驗方法

GJB150.4A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：低溫試驗方法

GB 24977-2010

GB/T 4893.7-2013