高溫高濕試驗(yàn)箱用于半導(dǎo)體電子元器件行業(yè)，用于考核元器件在在高溫，高濕的條件下對(duì)濕氣的抵抗能力，加速其失效進(jìn)程，同時(shí)可附帶評(píng)價(jià)產(chǎn)品外觀的寢蝕。常用測(cè)試條件：Ta = 85℃ 85%RH
特點(diǎn)
測(cè)試空間容積為80L,120L,225L，408L,504L,800L，1000L，非標(biāo)定制等
高效的控制和監(jiān)控系統(tǒng)，自帶集成的測(cè)試數(shù)據(jù)記錄功能。
帶菜單引導(dǎo)界面的彩色控制面板。
USB接口以太網(wǎng)接口。
具有獨(dú)立溫度測(cè)量（Tmin/Tax)功能的試樣保護(hù)裝置。
高速空氣循環(huán)速率可確保試驗(yàn)區(qū)內(nèi)的溫度和濕度分布均勻。
即使在高溫環(huán)境下也能提供可靠的測(cè)試數(shù)據(jù)值。
低噪聲級(jí)。
高分辨的彩色觸摸屏具有圖像顯示功能，便于處理環(huán)境模擬程序
能耗最小
設(shè)計(jì)和技術(shù)參數(shù)：