詳細(xì)介紹
X-Strata920表面鍍層測(cè)厚儀
是一款簡(jiǎn)潔、堅(jiān)固和可靠的質(zhì)量控制XRF臺(tái)式熒光系統(tǒng),用于簡(jiǎn)便、快速的鍍層厚度測(cè)試和材料分析。
功能特性:
- 成本低、快速、非破壞的EDXRF分析
- 可完成至多4層鍍層(另加底材)和25個(gè)元素的鍍層厚度測(cè)試,自動(dòng)修正X射線重疊譜線
- 的多元素辨識(shí),廣泛覆蓋元素表上從鈦(原子序數(shù)22號(hào))到鈾(92號(hào))各元素
- 測(cè)厚行業(yè)35年知識(shí)和經(jīng)驗(yàn)的積淀
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