MXY4000-4C 電子散斑干涉實驗系統(tǒng)

一、產(chǎn)品介紹：

 電子散斑干涉( ESPI)技術(shù)是一種非接觸式全場實時測量技術(shù),因其通用性強、測量精度高、頻率范圍寬及測量簡便等優(yōu)點 ，電子散斑干涉無損檢測技術(shù)可以完成位移、應(yīng)變、表面缺陷和裂紋等多種測試。電子散斑干涉實驗系統(tǒng)借助于粗糙表面信息的攜帶者-散斑來研究物體離面形變，是計算機圖像處理技術(shù)、激光技術(shù)以及全息干涉技術(shù)相結(jié)合的一種現(xiàn)代光測技術(shù)。激光的高相干性使散斑現(xiàn)象顯而易見，采用CCD攝像機，使之可采用計算機處理數(shù)據(jù)和圖像。電子散斑干涉應(yīng)用廣泛，如物體形變測量、無損測量、振動測量等。

二、實驗內(nèi)容：

1、了解電子散斑干涉原理

2、掌握干涉光路及圖像處理軟件

3、使用本系統(tǒng)來測量三維離面位移

三、配置和參數(shù)：

1、激光器：氦氖激光器，632.8nm,TEM00，>1.5mW,發(fā)散角<5mrad

2、加熱用電源：電壓可調(diào)范圍：0V-110V

3、CCD攝像機：PAL制，電源DC12V,1000mA

4、圖像采集卡：最小分辨率：640*480*16

5、擴束鏡：f=4.5mm

6、分束鏡：規(guī)格60mm*50mm*6.3mm

7、二維平移底座：上下前后二維位置可調(diào)

8、待測物體：受熱變形和受力變形各一件

9、其他：通用底座，干板架，白屏，反射鏡等