◆產(chǎn)品名稱：大理石光學(xué)平臺（剛性支架）

◆產(chǎn)品型號：CPPT-D

◆產(chǎn)品應(yīng)用：適合于光通訊、電子制造、科研、科研院校、顯微鏡、光路測試、光學(xué)測量、激光干涉、激光掃描、光譜實驗等領(lǐng)域應(yīng)用

◆產(chǎn)品特點：

☆臺面材料采用健康型天然大理石平臺代替原有的鋼結(jié)構(gòu)平臺，其明顯優(yōu)點是平面度好、質(zhì)量大、穩(wěn)定性好、耐腐蝕性強

☆平面度很高，臺面有00級，0零可以選擇，

☆抗壓強度大于等于245mpa，抗彎強度22kn/mm2，肖氏硬度大于HS70，吸水率小于0.25%，

☆大理石平板工作面硬度應(yīng)均勻且工作面各部位肖氏硬度應(yīng)在HS70 以上

☆大理石平板工作面的表面粗糙度平均偏差Ra值應(yīng)達到0.32~0.63μm，側(cè)面的表面粗糙度平均偏差Ra 值應(yīng)小于10μm

☆大理石平板工作面與側(cè)面以及相鄰兩側(cè)面的垂直度公差為 12 級

☆對采用對角線法或網(wǎng)格法檢驗大理石平板工作面平面度時，應(yīng)檢驗其平面波動量

☆可根據(jù)不同規(guī)格接受特殊化定制