◆ 產(chǎn)品名稱：CCD光電性能測(cè)試系統(tǒng)

◆ 產(chǎn)品應(yīng)用：主要用于線、面陣CCD光電相應(yīng)性能測(cè)試。

◆ 產(chǎn)品介紹：本系統(tǒng)能夠解決空間光學(xué)遙感器研制中光電成像器件選型、采取抗輻射加固設(shè)計(jì)及輻射校正設(shè)計(jì)及為光電成像

器件受輻照后性能變化的機(jī)理研究提供檢測(cè)手段等諸多科學(xué)問題；同時(shí)能夠在業(yè)界對(duì)光電成像器件抗輻射性能評(píng)價(jià)

的標(biāo)準(zhǔn)化和規(guī)范化起到積極推進(jìn)作用。

◆ 產(chǎn)品主要測(cè)試功能：

1) 飽和輸出電壓（SV）

2) 飽和曝光量（SE）；(A光源)

3) 光輻射響應(yīng)度（燈光照明下的R）；輻射照度響應(yīng)度（A光源）

4) 相對(duì)光譜響應(yīng)度RS；

5) 響應(yīng)度均勻性（PRNU）；

6) 響應(yīng)度非線性度；

7) 電荷轉(zhuǎn)移效率（CTE）；

8) 光譜和白光傳遞函數(shù)（MTF）；

9) 暗信號(hào)（DS）；

10) 暗噪聲（VNOISE）；

11) 噪聲等效曝光量（NEE）；

12) 動(dòng)態(tài)范圍（DR）；

13) 非線性度（NL）；

14) 固態(tài)圖片噪聲（FPN）。

◆ 產(chǎn)品主要技術(shù)指標(biāo)：

★ 工作光譜波段：380nm~1100nm；

★ 可測(cè)量CCD尺寸: 100mm×100mm；

★ 光源均勻性：優(yōu)于1%；

★ 光源穩(wěn)定性：優(yōu)于0.5%/h；

★ 光譜分辨率：＜2nm；

★ A/D量化等級(jí)：14bit；

★ 動(dòng)態(tài)范圍：80dB；

★ 不確定度：5%；

★ 重復(fù)性誤差：2%。