半導體激光器所發(fā)出的激光具有一定的發(fā)散角，直接照射探測器，不能獲得準確的功率值。CPLD150激光光譜功率測試系統(tǒng)，使半導體激光器發(fā)出的激光在積分球內形成均勻的光強分布，由光功率計和光纖光譜儀分別測量波長和功率，通過專業(yè)的軟件輸出測量結果。測量波長范圍200-1100nm，分辨率0.1-1nm，功率范圍：100nW-10W。

產(chǎn)品特點：

● 專用軟件可以一鍵獲取光譜及光功率數(shù)據(jù)

應用：

半導體激光器光譜和功率測量

產(chǎn)品組成：

1.積分球

創(chuàng)譜儀器提供的CPISA150積分球為全鋁殼體，內球徑為150mm。激光器處于積分球的頂部，與探測器和SAM905適配器成90°分布。光纖光譜儀通過光纖連接積分球SMA905適配器。

● 涂層損傷閾值10W/cm2

2.光功率計：

創(chuàng)譜儀器CPM07系列手持式光功率計，外形適中，配備了大尺寸的LCD段碼顯示屏，也可以通過USB2.0接口與計算機實時通訊，支持雙路采集模式。創(chuàng)譜儀器也提供多種光電探測器選擇，波長范圍200nm-1100nm，功率范圍100pW-10mW。

3.光纖光譜儀

創(chuàng)譜儀器提供的光纖光譜儀，體積只有名片大小，分辨率高達0.35nm-1nm，而66系列光譜儀分辨率高達0.1nm。兩個系列的光譜儀都提供波長響應范圍分為200nm-1000nm和300nm-1100nm的探測器供用戶選擇。

4.其余光電元器件，歡迎！