日本 MOUNTECH HM-1201 比表面積分析儀日本 MOUNTECH HM-1201 比表面積分析儀

設(shè)備基礎(chǔ)規(guī)格

• 測(cè)量原理：BET 流動(dòng)法，依據(jù) JIS Z8830:2013

• 測(cè)量范圍：0.01~4000㎡/g，受樣品特性影響

• 測(cè)量精度：可重復(fù)性 ±1%（取決于樣本）

• 單次測(cè)量時(shí)長(zhǎng)：約 15 分鐘 / 1 份樣本，不含前處理

• 脫氣溫度：400℃

• 本體尺寸：寬 310× 深 620× 高 570mm

• 本體重量：約 30kg

• 適用氣體：純氮?dú)?、氮氦混合氣體

• 配套 PC 系統(tǒng)：Windows7/8/10，32/64 位兼容這款 MOUNTECH HM-1201 比表面積分析儀依托 BET 流動(dòng)法技術(shù)，符合 JIS Z8830 日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，可精準(zhǔn)測(cè)定各類粉體的比表面積。設(shè)備本體與自動(dòng)取樣器采用單元模塊化設(shè)計(jì)，用戶可先采購主機(jī)，后續(xù)按需加裝自動(dòng)取樣模塊，靈活升級(jí)檢測(cè)通量。人機(jī)交互界面簡(jiǎn)潔直觀，操作人員無需長(zhǎng)期專業(yè)培訓(xùn)即可上手操作?？蛇x配件包含外部脫氣裝置、預(yù)熱器、成型品測(cè)量單元等，適配多樣化樣品前處理與測(cè)試需求。儀器支持單點(diǎn)法與多點(diǎn)法兩種 BET 測(cè)試模式，可切換不同比例氮氦混合氣開展檢測(cè)，樣品脫氣溫度 400℃，能充分去除樣品表面吸附雜質(zhì)，保障檢測(cè)數(shù)據(jù)穩(wěn)定。單次樣品檢測(cè)約 15 分鐘，檢測(cè)重復(fù)性可達(dá) ±1%。整機(jī)體積緊湊，重量約 30kg，便于實(shí)驗(yàn)室安放。PC 端配套控制分析軟件，可完成數(shù)據(jù)采集、運(yùn)算與報(bào)告輸出，軟件對(duì)電腦硬件要求適中，普通 Windows 電腦即可運(yùn)行。設(shè)備擴(kuò)展性強(qiáng)，可根據(jù)樣品類型搭配各類選件，適配粉體研發(fā)與品質(zhì)管控場(chǎng)景。適用場(chǎng)景：電子元件材料、電池材料、顏料、碳粉、催化劑、制藥原料、金屬粉末、填料、陶瓷、研磨劑、化妝品、功能性粉體等材料的比表面積檢測(cè)，用于新材料研發(fā)、進(jìn)廠質(zhì)檢、成品性能驗(yàn)證。