美國 D&S AE1 RD1 半球發(fā)射率測(cè)量儀美國 D&S AE1 RD1 半球發(fā)射率測(cè)量儀

設(shè)備基礎(chǔ)規(guī)格

• 測(cè)量指標(biāo)：半球發(fā)射率，模擬 65℃（150℉）下總半球發(fā)射率

• 重復(fù)性：±0.01 發(fā)射度單位

• 預(yù)熱時(shí)間：約 30 分鐘

• 單次測(cè)量時(shí)長：一分半鐘

• 輸出特性：電壓輸出與發(fā)射率近似線性

• 配套組件：AE1 發(fā)射率探頭 + RD1 數(shù)字電壓表

• 標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)：ASTM C1371、ISO 相關(guān)規(guī)范

• 可選配件：小面積樣品適配器、非標(biāo)曲面樣品定制適配器

核心產(chǎn)品特性

 D&S AE1 RD1 半球發(fā)射率測(cè)量儀是專門用于材料半球發(fā)射率檢測(cè)的精密儀器，整機(jī)由 AE1 發(fā)射率傳感探頭與 RD1 數(shù)字縮放電壓表組成，檢測(cè)流程簡單易上手。儀器檢測(cè)器采用電加熱結(jié)構(gòu)，檢測(cè)過程無需對(duì)樣品進(jìn)行升溫處理，也不需要額外采集樣品溫度，簡化試驗(yàn)步驟，減少溫度帶來的操作誤差。設(shè)備測(cè)量重復(fù)性可達(dá) ±0.01 發(fā)射度單位，數(shù)據(jù)穩(wěn)定可靠，滿足材料研發(fā)與質(zhì)檢的精度要求。儀器開機(jī)預(yù)熱約 30 分鐘后，每 90 秒即可完成一次樣品讀數(shù)，檢測(cè)效率高，適合批量樣品測(cè)試。設(shè)備支持選配多種適配器，既可檢測(cè)小面積試樣，也可定制適配器用于不規(guī)則、非平面樣品檢測(cè)，適配更多類型試件。電壓輸出信號(hào)和發(fā)射率近似線性關(guān)系，讀數(shù)直觀清晰，配套 RD1 數(shù)字電壓表，數(shù)值讀取方便。相較于同類型進(jìn)口發(fā)射率檢測(cè)設(shè)備，該款儀器具備良好的性價(jià)比，同時(shí)配套線上技術(shù)資料庫，便于操作人員查閱參考，符合 ASTM C1371 標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)要求，檢測(cè)結(jié)果具備合規(guī)性，可用于材料性能報(bào)告出具。設(shè)備結(jié)構(gòu)緊湊，安裝調(diào)試簡單，維護(hù)工作量低，長期穩(wěn)定運(yùn)行，滿足實(shí)驗(yàn)室常態(tài)化測(cè)試需求。

適用場(chǎng)景 

廣泛應(yīng)用于保溫材料、涂層、薄膜、金屬表面、航天航空材料、建筑節(jié)能材料等領(lǐng)域，用于材料紅外半球發(fā)射率的實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)與來料質(zhì)檢，適用于材料研發(fā)實(shí)驗(yàn)室、第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)、高?？蒲性核?、保溫涂料生產(chǎn)企業(yè)，依據(jù) ASTM C1371 標(biāo)準(zhǔn)完成發(fā)射率性能評(píng)定。