蒸汽老化試驗(yàn)箱概述：

本產(chǎn)品適用于電子連接器、半導(dǎo)體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片電阻電容、零組件產(chǎn)業(yè)、電子零組件金屬接腳沾錫性試驗(yàn)前的老化加速壽命時(shí)間試驗(yàn)；半導(dǎo)體、被動(dòng)組件、零件接腳氧化試驗(yàn)。微電腦溫度控制器、 LED數(shù)字顯示，PID+SSR控制，白金電阻溫度傳感器(PT100)，解析度0.1℃，全自動(dòng)安全保護(hù)裝置。

特點(diǎn)：

老化箱整體不銹鋼SUS #304 HL制成，操作設(shè)定簡(jiǎn)易

微電腦數(shù)位LED控制，具時(shí)間規(guī)劃功能，可設(shè)定9,990Mins

多重超溫保護(hù)／缺水切電熱等安全裝置。

零件、連接器被動(dòng)元件，半導(dǎo)體接腳高溫高濕氧化試驗(yàn)。

金屬接腳沾錫性試驗(yàn)加速老化試驗(yàn)。

采用觸摸式PID+SSR 溫度控制器，同時(shí)具有時(shí)間計(jì)時(shí)功能，可設(shè)定9990 分式無(wú)限。

全自動(dòng)安全超溫保護(hù)及氣用水缺水空焚保護(hù)裝置。

執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)

符合軍規(guī)MTL-STP-208F，202

用途

蒸汽老化試驗(yàn)箱適用于電子連接器、半導(dǎo)體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片電阻電容、零組件產(chǎn)業(yè)、電子零組件金屬接腳沾錫性試驗(yàn)前的老化加速壽命時(shí)間試驗(yàn)；半導(dǎo)體、被動(dòng)組件、零件接腳氧化試驗(yàn)。微電腦溫度控制器、 LED數(shù)字顯示，PID+SSR控制，白金電阻溫度傳感器(PT100)，解析度0.1℃，全自動(dòng)安全保護(hù)裝置。