渦流陣列檢測

渦流陣列技術(shù)
渦流陣列技術(shù)（ECA）以電子方式驅(qū)動同一個探頭中多個相鄰的渦流感應(yīng)線圈，并解讀來自這些感應(yīng)線圈的信號。通過使用多路技術(shù)采集數(shù)據(jù)， 可避免不同線圈之間的互感。

OmniScan® ECA檢測配置在橋式或發(fā)射-接收模式下可支持32個感應(yīng)線圈（使用外部多路器可支持的感應(yīng)線圈多達(dá)64個）。操作頻率范圍為20 Hz～6 MHz，并能選擇在同一采集中使用多頻。

渦流陣列的優(yōu)勢
同單通道渦流技術(shù)相比，渦流陣列技術(shù)具有下列優(yōu)勢：

• 檢測時間大幅度降低。
• 單次掃查覆蓋更大檢測區(qū)域。
• 減小了機(jī)械和自動掃查系統(tǒng)的復(fù)雜性。
• 提供檢測區(qū)域?qū)崟r圖像，便于數(shù)據(jù)的判讀。
• 地適用于對那些具有復(fù)雜幾何形狀的部件的檢測。
• 改進(jìn)了檢測的可靠性和檢出率（POD）。

渦流陣列探頭
Olympus NDT制造的R/D Tech® ECA探頭可適用于廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域。根據(jù)缺陷的不同類型或者被測工件的形狀，可以設(shè)計出不同的探頭。標(biāo)準(zhǔn)探頭可檢測如裂紋、點(diǎn)蝕等缺陷，以及多層結(jié)構(gòu)中如裂紋及腐蝕等近表面的缺陷。

傳感器之間的多路轉(zhuǎn)換技術(shù)。

渦流陣列探頭可以省掉兩軸掃查中的一軸，使渦流設(shè)置具有更大的靈活性。

探頭可以做成不同的形狀和尺寸，以更好地適應(yīng)檢測部件的外形。

用于腐蝕檢測的發(fā)射-接收探頭可以探到鋁材料中6毫米（0.25英寸）的深度。

用于表面裂痕檢測的發(fā)射-接收探頭以及一個可選編碼。

用于表面裂痕檢測的優(yōu)良式探頭。

渦流陣列檢測儀軟件

簡單的數(shù)據(jù)采集和分析顯示

• C掃描視圖中的數(shù)據(jù)采集，可快速有效地檢測缺陷。
• 分析模式下的數(shù)據(jù)選擇，可在阻抗圖和帶狀圖中瀏覽信號。
• 波幅、相位和位置測量。
• 可調(diào)彩色調(diào)色板。
• 大尺寸阻抗平面圖和帶狀視圖，與常規(guī)單通道ECT探頭檢測相適應(yīng)。

渦流陣列檢測儀校準(zhǔn)向?qū)?/strong>