HAST半導(dǎo)體芯片HAST測試試驗(yàn)箱

絕緣電阻劣化評估系統(tǒng)試驗(yàn)箱是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固 定的直流電壓，經(jīng)過長時(shí)間的測試(1～1000小時(shí))并觀察線路是否有瞬間短 路的現(xiàn)象發(fā)生，并記錄電阻值變化狀況，故又叫做CAF試驗(yàn)，絕緣阻力電阻試 驗(yàn)，我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗(yàn)，可進(jìn)行BHAST 試驗(yàn)。在高溫高濕條件 下，對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值，也能夠進(jìn)行高效率 的絕緣可靠性評估。

HAST半導(dǎo)體芯片HAST測試試驗(yàn)箱

絕緣電阻劣化評估系統(tǒng)試驗(yàn)箱特點(diǎn)

· 高機(jī)能：采用驅(qū)動(dòng)計(jì)測， 測試時(shí)焊接工序大幅減少

·軟件設(shè)計(jì)簡單明了，直觀易操 作

·遠(yuǎn)程監(jiān)控功能，可監(jiān)控試驗(yàn)過 程。

· 便利性高：構(gòu)造裝著脫落式、 易進(jìn)行保養(yǎng)交換。可同時(shí)試驗(yàn)停 止等聯(lián)動(dòng)裝置功能，系統(tǒng)構(gòu)成靈 活。

· 測試自檢功能：點(diǎn)檢、校正方 便。

·設(shè)計(jì)精巧，不受場所限制，易 移動(dòng)。

· 可靠性高：配有CF卡，以防設(shè) 備故障數(shù)據(jù)丟失。以UPS作為系 統(tǒng)的支撐，保證試驗(yàn)的安全繼續(xù) 進(jìn)行。

偏壓老化測試 BHAST試驗(yàn)箱

應(yīng)用

PCB、焊料、助焊劑、涂層材料等， GBA、DSP等 ，IC封裝、電容器、連接器 等電子器件及材料絕緣材料吸濕特性測試評估。