ICP-MS已被為痕量金屬元素分析的 技術(shù)。當(dāng)今的常規(guī)實驗室要求比 ICP-OES更為靈敏，比石墨爐原子吸收 (GFAAS)更為快速的分析技術(shù)。ICP-MS 可滿足上述兩方面的需求，它具有更寬 的工作范圍，并可同時測定能生成氫化 物的元素及痕量Hg，同時還具備半定量 及同位素比分析能力。ICP-MS又可作為 一種極為理想的多功能的檢測器，與色 譜和激光技術(shù)聯(lián)用。

安捷倫新的7500系列具有自動化的 易于使用、靈活性、可靠性以及優(yōu)秀的 設(shè)計，它提供了的分析性能。 新的7500系列可配備第二代八級桿反應(yīng) 池(ORS)技術(shù)，提供多種選擇的進樣附件、 應(yīng)用與維修服務(wù)支持，它正在實驗室進入ICP-MS時代。

安捷倫新的7500系列包括兩種不同的型 號，可滿足不同的應(yīng)用需求和經(jīng)費預(yù)算。 無論您的應(yīng)用需求有什么變化，安捷倫 都將確保儀器的擴展功能與現(xiàn)場升級能 力，使您的投資得到報償。

Agilent 7500cx 碰撞池ICP-MS能滿足所有常規(guī)分析要 求的應(yīng)用

安捷倫的ORS碰撞池技術(shù)可使用氦碰 撞模式使新型7500cx成為、更靈 活、功能更*的ICP-MS。對最難分析 的樣品基體而言，7500cx是易于實現(xiàn)ppt 級定量分析的明智選擇。

通用的氦碰撞模式能可靠地且可預(yù)見地 除去所有基體干擾

? 易于設(shè)置－步驟簡單，無需復(fù)雜的優(yōu)化 過程

? 提高了分析效率－分析期間無需氣體 模式切換

? 改善了未知基體的樣品的分析數(shù)據(jù)可 靠性－與反應(yīng)氣體不同，無新的干擾 物形成，不損失分析物和內(nèi)標(biāo)

? 無需數(shù)學(xué)校正公式

專為分析高基體樣品而設(shè)計

? 真正的9個數(shù)量級的線性動態(tài)范圍－在 所有ICP-MS中其線性動態(tài)范圍

? 具有耐受復(fù)雜樣品基體的樣品引入系 統(tǒng)和接口，可以輕松分析如廢水、土 壤、食物、生物醫(yī)學(xué)樣品、石化以及 地質(zhì)樣品等難分析的樣品

無干擾的半定量分析－快速！

? 氦碰撞模式可以實現(xiàn)未知樣品的全掃 描半定量分析－無干擾現(xiàn)象，且一次 采集即可完成分析

可選配的反應(yīng)池氣路－反應(yīng)氣模式－特殊 應(yīng)用

? 可選配的氫氣反應(yīng)模式－使硒的檢測 限達(dá)幾個ppt

? 可選配的Xe反應(yīng)模式－可測定亞ppb 級的硫