儀研智造（上海）藥檢儀器有限公司始創(chuàng)于2007年，是由原中國藥科大學(xué)技術(shù)專家和上海市光學(xué)研究所多名科研人員組成，主要開發(fā)生產(chǎn)與銷售藥物檢測儀器。依托高校雄厚的智力資源，結(jié)合多年來與國家藥典委員會(huì)、國家食品藥品監(jiān)督管理局（SFDA）、國家/省/市級(jí)藥品檢驗(yàn)所、各大醫(yī)藥教學(xué)/科研院所等建立起來的良好合作關(guān)系，公司不斷提高自身的科技創(chuàng)新能力和產(chǎn)品水平，現(xiàn)已發(fā)展為以電子信息、光機(jī)電、計(jì)算機(jī)技術(shù)一體化產(chǎn)品為主的現(xiàn)代化制造企業(yè)。
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全自動(dòng)熔點(diǎn)儀產(chǎn)品參數(shù)
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YJ-2080E全自動(dòng)熔點(diǎn)儀
主要技術(shù)參數(shù)如下：
1、熔點(diǎn)測定范圍：室溫～400℃
2、溫度顯最小示值：0.1℃
3、線性升溫速率0.2、0.5、1.0、1.5、2.0、3.0、4.0、5.0（℃/min）
4、測量準(zhǔn)確率：＜200℃：±0.5℃；≥200：±0.8℃
5、測定晶體物質(zhì)的熔點(diǎn)以確定其純度
6、光電檢測，數(shù)字鍵盤輸入，大屏幕背光液晶顯示，屏幕直接顯示熔化曲線。
7、配有RS232接口
主要技術(shù)參數(shù)如下：
1、熔點(diǎn)測定范圍：室溫～400℃
2、溫度顯最小示值：0.1℃
3、線性升溫速率0.2、0.5、1.0、1.5、2.0、3.0、4.0、5.0（℃/min）
4、測量準(zhǔn)確率：＜200℃：±0.5℃；≥200：±0.8℃
5、測定晶體物質(zhì)的熔點(diǎn)以確定其純度
6、光電檢測，數(shù)字鍵盤輸入，大屏幕背光液晶顯示，屏幕直接顯示熔化曲線。
7、配有RS232接口
全自動(dòng)熔點(diǎn)儀詳細(xì)信息
YJ-2080E全自動(dòng)熔點(diǎn)儀
YJ-2080E全自動(dòng)熔點(diǎn)儀
主要技術(shù)參數(shù)如下：
1、熔點(diǎn)測定范圍：室溫～400℃
2、溫度顯最小示值：0.1℃
3、線性升溫速率：0.2、0.5、1.0、1.5、2.0、3.0、4.0、5.0（℃/min）
4、測量準(zhǔn)確率：＜200℃：±0.5℃；≥200：±0.8℃
5、測定晶體物質(zhì)的熔點(diǎn)以確定其純度
6、光電檢測，數(shù)字鍵盤輸入，大屏幕背光液晶顯示，屏幕直接顯示熔化曲線。
7、配有RS232接口，可向PC機(jī)傳輸數(shù)據(jù)，顯示溶化曲線
主要技術(shù)參數(shù)如下：
1、熔點(diǎn)測定范圍：室溫～400℃
2、溫度顯最小示值：0.1℃
3、線性升溫速率0.2、0.5、1.0、1.5、2.0、3.0、4.0、5.0（℃/min）
4、測量準(zhǔn)確率：＜200℃：±0.5℃；≥200：±0.8℃
5、測定晶體物質(zhì)的熔點(diǎn)以確定其純度
6、光電檢測，數(shù)字鍵盤輸入，大屏幕背光液晶顯示，屏幕直接顯示熔化曲線。
7、配有RS232接口，可向PC機(jī)傳輸數(shù)據(jù)，顯示溶化曲線
主要技術(shù)參數(shù)如下：
1、熔點(diǎn)測定范圍：室溫～400℃
2、溫度顯最小示值：0.1℃
3、線性升溫速率0.2、0.5、1.0、1.5、2.0、3.0、4.0、5.0（℃/min）
4、測量準(zhǔn)確率：＜200℃：±0.5℃；≥200：±0.8℃
5、測定晶體物質(zhì)的熔點(diǎn)以確定其純度
6、光電檢測，數(shù)字鍵盤輸入，大屏幕背光液晶顯示，屏幕直接顯示熔化曲線。
7、配有RS232接口，可向PC機(jī)傳輸數(shù)據(jù)，顯示溶化曲線
主要技術(shù)參數(shù)如下：
1、熔點(diǎn)測定范圍：室溫～400℃
2、溫度顯最小示值：0.1℃
3、線性升溫速率0.2、0.5、1.0、1.5、2.0、3.0、4.0、5.0（℃/min）
4、測量準(zhǔn)確率：＜200℃：±0.5℃；≥200：±0.8℃
5、測定晶體物質(zhì)的熔點(diǎn)以確定其純度
6、光電檢測，數(shù)字鍵盤輸入，大屏幕背光液晶顯示，屏幕直接顯示熔化曲線。
7、配有RS232接口，可向PC機(jī)傳輸數(shù)據(jù)，顯示溶化曲線
主要技術(shù)參數(shù)如下：
1、熔點(diǎn)測定范圍：室溫～400℃
2、溫度顯最小示值：0.1℃
3、線性升溫速率0.2、0.5、1.0、1.5、2.0、3.0、4.0、5.0（℃/min）
4、測量準(zhǔn)確率：＜200℃：±0.5℃；≥200：±0.8℃
5、測定晶體物質(zhì)的熔點(diǎn)以確定其純度
6、光電檢測，數(shù)字鍵盤輸入，大屏幕背光液晶顯示，屏幕直接顯示熔化曲線。
7、配有RS232接口，可向PC機(jī)傳輸數(shù)據(jù)，顯示溶化曲線
主要技術(shù)參數(shù)如下：
1、熔點(diǎn)測定范圍：室溫～400℃
2、溫度顯最小示值：0.1℃
3、線性升溫速率0.2、0.5、1.0、1.5、2.0、3.0、4.0、5.0（℃/min）
4、測量準(zhǔn)確率：＜200℃：±0.5℃；≥200：±0.8℃
5、測定晶體物質(zhì)的熔點(diǎn)以確定其純度
6、光電檢測，數(shù)字鍵盤輸入，大屏幕背光液晶顯示，屏幕直接顯示熔化曲線。
7、配有RS232接口，可向PC機(jī)傳輸數(shù)據(jù)，顯示溶化曲線
主要技術(shù)參數(shù)如下：
1、熔點(diǎn)測定范圍：室溫～400℃
2、溫度顯最小示值：0.1℃
3、線性升溫速率0.2、0.5、1.0、1.5、2.0、3.0、4.0、5.0（℃/min）
4、測量準(zhǔn)確率：＜200℃：±0.5℃；≥200：±0.8℃
5、測定晶體物質(zhì)的熔點(diǎn)以確定其純度
6、光電檢測，數(shù)字鍵盤輸入，大屏幕背光液晶顯示，屏幕直接顯示熔化曲線。
7、配有RS232接口，可向PC機(jī)傳輸數(shù)據(jù)，顯示溶化曲線
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