（價(jià)格僅供參考，請(qǐng)以實(shí)際價(jià)格為準(zhǔn)）

HAST高加速壽命偏壓 老化測(cè)試系統(tǒng)

微波器件高加速壽命偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)是一種用于評(píng)估微波器件在條件下的性能和可靠性的測(cè)試系統(tǒng)。該系統(tǒng)通過(guò)施加高加速偏壓，模擬微波器件在實(shí)際使用中可能遇到的高溫、高壓等惡劣環(huán)境，以加速器件的老化過(guò)程。

HAST高加速壽命偏壓 老化測(cè)試系統(tǒng)

微波器件高加速壽命偏壓老化測(cè)試系統(tǒng) 應(yīng)用適用于各種封裝形式的射頻場(chǎng)效應(yīng)管、射頻功率器件進(jìn)行溫濕度下反偏試驗(yàn) 。

微波器件高加速壽命偏壓老化測(cè)試系統(tǒng) 特點(diǎn)

·每顆器件的Vgs獨(dú)立控制

·實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)每個(gè)試驗(yàn)器件的Id、  Ig

·控制上、下電時(shí)序

·全過(guò)程試驗(yàn)數(shù)據(jù)保存于硬盤(pán)中，可輸出Excel

·試驗(yàn)報(bào)表和繪制全過(guò)程漏電流  IR變化曲線(xiàn)