X-Strata 920有三種配置滿足各種形狀和尺寸的樣品。固定樣品臺用于小型或超薄部件的快速定位。加深樣品臺的可移動托盤可快速設(shè)置滿足小型和大型部件（大至6”）。程控樣品臺可自動分析多個樣品或同一個樣品上的多個部位。

微聚焦XRF鍍層測厚及材料分析光譜儀，可用于電鍍、PVD和CVD操作的快速質(zhì)量控制和驗證測試，不論您在檢測小配件、大組件或復(fù)雜配件，都能讓您在幾秒內(nèi)輕松得到正確的結(jié)果。

我們的鍍層測厚儀是基于X射線熒光光譜分析技術(shù)，該技術(shù)已被普遍認(rèn)可并且得到廣泛應(yīng)用，可以在無需樣品制備的情況下提供易于操作、快速和無損的分析，可分析固體和液體，元素范圍包括從元素周期表中的13Al到92U。

優(yōu)化的微聚焦硬件和直觀的用戶界面，簡化了常規(guī)分析，提高了產(chǎn)出，使用“一鍵式”操作可確保好簡單的培訓(xùn)就能同專業(yè)技術(shù)人員得到一樣的結(jié)果。高級用戶能容易地理解X熒光光譜，獲得定制的校準(zhǔn)和探索未知的材料。

所有牛津儀器微聚焦XRF分析儀器符合ASTM B568，可測量單層和多層涂層，包括合金層。他們可以按電鍍液或合金分析來校準(zhǔn)。X-Strata和MAXXI系列產(chǎn)品的設(shè)計滿足質(zhì)量控制或過程控制程序，以及研究實驗室的應(yīng)用。

X-Strata, Eco 和 MAXXI 系列產(chǎn)品是專為分析功能性鍍層而設(shè)計的。