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產品簡介
上海光譜SP-752紫外可見分光光度計特點產品參數(shù)
| 波長范圍 | 200nm-1000nm | 波長準確度 | ±2nm |
| 產地 | 國產 | 產品新舊 | 全新 |
| 光譜帶寬 | 5nm | 接收器類 | 光電二極管陣列 |
| 儀器結構 | 準雙單束 | 雜散光(S.L.) | ≦0.5%T |
| 自動程度 | 自動波長 |
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上海光譜SP-752紫外可見分光光度計特點詳細信息
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紫外可見分光光度計是由光源、單色器、吸收池、檢測器和信號處理器等部件組成。
產品名稱：紫外可見分光光度計
產品型號：SP-752
技術指標：波長準確度：±2nm
波長重復性：1nm
波長范圍200nm-1000nm
光譜帶寬5nm
雜散光≦0.5%T
SP-752型紫外可見分光光度計有著開機自檢、自校波長、光源自動切換，軟件雙向反控功能。
SP-752型紫外可見光分光光度計采用額高精度正弦機構作為單色傳動裝置，程序控制，波長精度和全波長的線性度，明顯優(yōu)于使用齒輪、齒條作為傳動機構和用刻度盤作為波長讀數(shù)的同類產品。
SP-752PC型除了具備SP-752的所有功能外，還增加了光譜掃描功能，可用于定性檢測。
SP-752技術參數(shù)：
基本測試功能 | |
基本測試 | 光度測試（A/T）,濃度測試（C） |
濃度測試 | 斜率法（C=K.A）,標準曲線法C=K.A+b |
軟件 | Win-spec工作站軟件 |
光度分析 | T、A、C測定 |
定量分析 | 標準曲線法 |
動力學分析 | 可設定延遲時間、采樣間隔、采樣時間等試條件 |
光譜分析 | 可進行光譜掃描，分析樣品的光譜特性（僅PC型儀器含此功能） |
基本儀器功能 | |
*T/0%T設置 | 自動 |
系統(tǒng)自檢 | 波長自檢、光源自檢、濾光片切換、能量校正 |
光源切換 | 可在325-355nm范圍內任意設置光源切換點，以提高樣品測試準確性 |
光源控制 | 可控制光源開關，以延長燈的使用壽命 |
換燈操作 | 換燈時可免去光學測試 |
信號輸出 | RS-232C、Analog(模擬信號) |
通訊功能 | 連接計算機后，可實現(xiàn)雙向通訊 |
性能指標：
型號 | SP-752 | SP-752PC |
光學系統(tǒng) | 單光束，自準式光柵單色器，1200條/毫米光柵 | |
波長顯示范圍（nm） | 200-1000 | 200-1100 |
光譜帶寬（nm） | 5 | 5 |
波長準確度（nm） | ±2 | ±1 |
波長重復性（nm） | 1 | 0.5 |
光度范圍 | 0-125%T,-0.097-3A | 0-125%T,-0.097-3A |
光度準確度 | ±0.5%T | ±0.5%T |
光度重復性 | 0.3%T | 0.3%T |
雜散光 | ≤0.5%T | ≤0.5%T |
穩(wěn)定性（A/h,500nm處） | ±0.002 | ±0.002 |
光度噪聲（Abs） | ±0.002 | ±0.002 |
基線平直度（Abs） | / | ±0.002 |
上海光譜SP-752紫外可見分光光度計應用：
定量分析：
您可以通過測量標準樣品的吸光度，輸入標準樣品的濃度，實現(xiàn)8個樣品的一階段性擬合。做好的標準曲線，可存儲、打印或調用曲線參數(shù)進行未知樣品的測量。
動力學分析：
可在儀器的波長范圍內，設定波長點，測定樣品在設定時間范圍內的吸光度、透射比或濃度的變化。可設定掃描時間、掃描間隔和延遲時間。
光譜掃描：
在儀器的波長范圍內，根據(jù)設定的波長范圍，對樣品進行光譜掃描，測試樣品的吸光度、透射比隨波長的變化曲線，分析樣品的光譜特性，尋找大吸收峰位置?？蓪庾V掃描曲線進行平滑、峰谷檢測，可對幾組圖譜進行疊加和混合四則運算，可以打印和存儲圖譜。
主要規(guī)格 | 標準配置 | |
顯示方式 | 2×20液晶顯示器 | 10mm手動四聯(lián)比色池架一個 |
工作站 | 基于微軟視窗操作系統(tǒng)的應用工作界面 | 10×10×45mm標準玻璃比色皿四只 |
光源 | 6V10W進口2000小時長壽命鎢鹵素燈進口1000小時長壽命氘燈 | 10×10×45mm標準石英比色皿二只 |
樣品室 | 100毫米測量光程 | RS-232C通訊線一根 |
標準比色池架 | 10mm | 電源線一根 |
電源要求 | 110/220VAC，50/60Hz，±10% | 使用手冊一份 |
外形尺寸 | 475×420×180（mm） | 操作流程一份 |
儀器凈重 | 11KG | Win-Spec應用軟件SP-5.0 |
包裝重量 | 14KG | / |
關鍵詞：可見分光光度計
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