BX53-P 偏光顯微鏡

使用UIS2無限遠校正光學系統(tǒng)和*的光學設計組合的奧林巴斯BX53-P偏光顯微鏡在偏光應用時提供了的性能。可擴展的補償器使BX53-P有足夠多的功能來處理任何相關領域中的觀察和測量應用。

偏光特性的升級
ACHN-P和UPLFLN-P物鏡中使用的精巧設計和生產(chǎn)技術與顯微鏡*結合。BX53-P偏光顯微鏡在起偏振片和檢偏振片里配備了高EF值濾色片，提供了的圖像對比度。為滿足研究和應用的多樣化要求，*型UPLFLN-P系列物鏡采用了適用于多種觀察方法的設計，包括Nomarski DIC和熒光顯微鏡觀察以及偏光觀察。 
* EF（衰減系數(shù)）是平行和交叉偏光濾色片之間的亮度比。EF值越高，消光效果就越好。

正交鏡和錐光鏡成像中的銳利圖像
使用U-CPA錐光鏡觀察附件后，正交偏光和錐光鏡觀察之間的切換簡單而快捷。錐光鏡成像的聚焦輕松而準確。勃氏透鏡視場光闌的使用使其可以持續(xù)獲取銳利而清晰的錐光圖像。

BX53-P 偏光顯微鏡堅固而精確的旋轉載物臺
旋轉載物臺安裝的旋轉對中裝置能夠順暢地旋轉標本。此外，為了實施精確測量，每隔45度就有一個咔噠停止裝置。如果增加了雙機械載物臺，還可以進一步完成X-Y的微小移動。